eDR7380™电子束晶圆缺陷检视和晶圆分类系统可以拍摄高分辨率的缺陷图像,从而精确反映晶圆上的缺陷群体状况。eDR7380内置多种电子光学元件和专用的镜头内探测器,对包括脆弱的EUV光刻层、高宽比沟槽层和电压对比层等在内的各个不同的制程步骤提供缺陷可视化支持。独特的Simul-6™技术可以通过一次测试生成完整的DOI(关注...
回收KLA Tencor Surfscan SP7 eDR7380测量分析仪价格 ¥ 10000.00 ¥ 10000.00 起订数 1台起批 1台起批 发货地 广东深圳 咨询底价 产品服务 热门商品 回收福禄克1621 1623-2 1625-2 KIT接地电阻测试仪FI-7000网络分析仪NetworksVERSIV ¥ 80000.00 回收Elektro-Automati美国EA-PSI8080-340 PSI8080-510...
回收KLA Tencor Surfscan SP7 eDR7380测量分析仪 价格 ¥ 10000.00 ¥ 10000.00 起订数 1台起批 1台起批 发货地 广东深圳 商品类型 机械设备 、 电子产品制造设备 、 其他电子产品制造设备 商品关键词 回收、 仪器、 工控、 实验设备、 机械设备 ...
凭借独特的技术和强大的连接性,我们的392x和295x检测器和eDR7380检测系统构成合作组合,为先进逻辑IC、DRAM、3D NAND从研发到批量生产的过程提供全方位的解决方案,针对关键缺陷完成检测、识别、溯源。 点击进入互动体验 392x and 295x 宽光谱等离子光学图案晶圆缺陷检测系统 392x和295x平台具有互相补充的光谱波段,这样...
凭借一流的图像质量和通过一次测试获得完整缺陷分布图的独特能力,eDR7380电子束晶圆缺陷检视系统可以在产品开发中更加迅速地捕获缺陷源,同时在生产制造中更快地检测偏移并且获取更为准确及可操作的数据。该系统能够对脆弱的EUV光刻工艺层进行检视。与KLA检测仪的独特结合可以缩短获取结果的时间,促进多种的KLA特定应用的使...
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KLA公司今日发布392x和295x光学缺陷检测系统和eDR7380™电子束缺陷检视系统。 2019-07-09 09:44:58 KLA荣登《财富》500强 2021年KLA首次入选《财富》500强榜单,希望与全球员工分享这一卓越成就。 2021-06-10 10:14:19 KLA再度入选《福布斯》“全球最佳雇主” ...
KLA发布全新缺陷检测与检视产品组合 KLA公司今日发布392x和295x光学缺陷检测系统和eDR7380™电子束缺陷检视系统。 2019-07-09 09:44:58 KLA发布最新版《全球影响力报告》 继续完善长期ESG战略 近日,KLA发布了最新版《全球影响力报告》,详细梳理了KLA过去一年在ESG (环境、社会和公司治理) 项目中取得的进展。发挥...
KLA 2835 Broadband Plasma逻辑器件专用明场检测仪说明书 产品手册 2835 Broadband Plasma 是业界首款逻辑器件专用的明场检测仪，在亚45nm 的逻辑器件上能够侦测到最多类别的关键缺陷。2835凭借一系列像素尺寸、专利的算法工具包和增强型数据速率，能够以最高的产量对复杂图案几何结构中的良率关键缺陷进行高灵敏度检测。
eDR7xxx™ 电子束晶圆缺陷检视和分类系统 eDR7380™电子束晶圆缺陷检视和晶圆分类系统可以拍摄高分辨率的缺陷图像,从而精确反映晶圆上的缺陷群体状况。eDR7380内置多种电子光学元件和专用的镜头内探测器,对包括脆弱的EUV光刻层、高宽比沟槽层和电压对比层等在内的各个不同的制程步骤提供缺陷可视化支持。独特的Simul-...