JEDEC JESD28-A-2001发布 2001年发布单位 (美国)固态技术协会,隶属EIA适用范围 随着时间的推移,热载流子引起的 MOSFET 参数退化是现代微电路中一个重要的可靠性问题。高能载流子,也称为热载流子,是由漏极区附近的大沟道电场在 MOSFET 中产生的。电场将载流子加速到远高于晶格温度的有效温度。这些热载流子通过声子发射...
JEDEC STANDARD Procedure for Measuring N-Channel MOSFET Hot-Carrier-Induced Degradation Under DC Stress JESD28-A (Revision of JESD28) DECEMBER 2001 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION NOTICE JEDEC standards and publications contain material that has been prepared, reviewed, and approved through the...
国际标准分类中,jesd28a涉及到。在中国标准分类中,jesd28a涉及到计算机设备、标准化、质量管理、数据元表示方法。(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于jesd28a的标准JEDEC JESD28-A-2001 测量DC压力下最大基层电流N-信道MOSFET Hot-Carrier-Induced降级 JEDEC JESD82-28A-2008 用于复核测试、设计(DFx)的全缓冲内存...