1 适用范围 本标准规定了针对质量认证需求的一种芯片EEPROM耐久性、保持率和交叉温度试验的流程要求。耐久性和保留率认证规范(周期计数、持续时间、温度和样品大小)已经在JESD47中有规定，或者也可以执行基于JESD94中相关知识的方法制定实验流程。使用JESD47中指定的参数级别，用于鉴定和监测的写入/擦除耐力和数据保留测...
JEDEC JESD22-A117-2000 中文名称: 英文名称:Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance and Data Retention Test 中国标准分类(CCS): 国际标准分类(ICS): 发布日期:2000 实施日期: 页数: 标准状态:作废 点击数:178 更新日期:2017-10-13...