电子工程设计发展联合会议标准功率和温度循环控制JESD-A105D(ESD-A105C修订版,004年1月,011年1月再次确认)00年1月月JEDEC固态技术协会
内容提示: JEDEC STANDARD Power and Temperature Cycling JESD22-A105D (Revision of JESD22-A105C, January 2004, Reaffirmed January 2011) JANUARY 2020 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Copyright Solid State Technology Association Provided by Accuris under license with JEDECOrder Number: 02389374Sold...
JEDEC STANDARDPower and Temperature Cycling功率和温度循环JESD22-A105C(Revision of JESD22-A105-B)JANUARY 2004, Reaffirmed January 2011JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION
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JESD22-A105C-Power and Temperature Cycling
JESD22-A105C (RevisionofJESD22-A105-B) JANUARY2004,ReaffirmedJanuary2011 JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATION NOTICE JEDECstandardsandpublicationscontainmaterialthathasbeenprepared,reviewed,and approvedthroughtheJEDECBoardofDirectorslevelandsubsequentlyreviewedandapproved ...
JESD22-A105C_2004_Power_and_Temperature_Cycling功率和温度循环.pdf,JEDEC STANDARD Power and Temperature Cycling JESD22-A105C (Revision of JESD22-A105-B) JANUARY 2004 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION NOTICE JEDEC standards and publications contain
预览JEDEC JESD22-A105C-2004前三页 标准号 JEDEC JESD22-A105C-2004 2004年 总页数 12页 发布单位 (美国)固态技术协会,隶属EIA 适用范围 该测试方法适用于承受温度偏移并需要在所有温度下通电和断电的半导体器件。进行功率和温度循环测试是为了确定设备在定期施加和消除操作偏压的情况下承受极端高温和低温交替暴露的...
JEDEC JESD22-A105D-2020已经是当前最新版本。 本测试方法适用于在温度变化中需要开启和关闭电源的半导体器件,旨在评估设备在极端高低温环境下承受交替暴露的能力。该试验被视作破坏性测试,并用于设备鉴定。 点击查看大图 标准号 JEDEC JESD22-A105D-2020
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