JESD22-A104F是一项针对集成电路封装和组装过程中热应力测试的标准,其目的是评估芯片在温度变化和热应力下的可靠性。 在研发和生产集成电路时,温度变化和热应力可能对芯片的性能和可靠性产生负面影响。JESD22-A104F标准定义了测试方法和程序,以确保芯片在不同温度条件下的稳定性和可靠性。该标准包含了测试样品的准备...
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内容提示: JEDEC STANDARD Temperature Cycling JESD22-A104F (Revision of JESD22-A104E, October 2014) NOVEMBER 2020 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Copyright Solid State Technology Association Provided by S&P Global under license with JEDECOrder Number: 02372486Sold to:CEPREI [700166108616] - ...
JEDEC STANDARD Temperature Cycling JESD22-A104C (Revision of JESD22-A104-B) MAY 2005 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION NOTICE JEDEC standards and publications contain material that has been prepared, reviewed, and approved through the JEDEC Board of Directors level and subsequently reviewed and...
JEDEC JESD22-A104F.01-2023 2023年 总页数 18页 发布单位 / 适用范围 该标准适用于空气或其他气体介质中的单室、双室和三室温度循环,并涵盖元件和焊料互连测试。 购买 正式版 JEDEC JESD22-A104F.01-2023 中可能用到的仪器设备 低温恒温器 其他标准 ...
JEDEC JESD22-A104F-2020的仪器谱信息,温度循环, Temperature Cycling, 提供JEDEC JESD22-A104F-2020的发布时间、引用、替代关系、发布机构、适用范围等信息,也提供PDF预览(如果有PDF)以及下载地址(如果可以下载)。
JEDEC JESD 22-A104F-2020 JEDEC Standard No. 22-A104F 标准名称:温度循环测试方法A104F(修订自JESD22-A104E,2014年10月) 适用范围:本标准适用于单室、双室和三室的空气或其他气体介质中的温度循环测试。包括组件和焊接接头的测试。 在单室循环中,负载放置在一个静止的室中,并通过引入热或冷空气进行加热或冷...
国际标准分类中,jesd22-a104f涉及到。 在中国标准分类中,jesd22-a104f涉及到。 未注明发布机构,关于jesd22-a104f的标准 JEDEC JESD22-B104C-2004(2009)机械冲击试验方法 JESD22-B104C (修订自JESD22-B104-B) JEDEC JESD 22-A104F-2020JEDEC固态技术协会标准 ...
JEDEC JESD22-A104F-2020 中可能用到的仪器设备低温恒温器 其他标准IEC 60410:1973 计数检查抽样方案和程序 JEDEC JESD28-A-2001 测量DC压力下最大基层电流N-信道MOSFET Hot-Carrier-Induced降级 JEDEC JESD63-1998 极端电路密度和温度的电迁移模型参数的标准方法 JEDEC JESD90-2004 为测量P路 MOSFET负偏压温度不...
JEDEC JESD22-A104F-2020由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 2020-11-01。 JEDEC JESD22-A104F-2020 温度循环的最新版本是哪一版? JEDEC JESD22-A104F-2020已经是当前最新版本。 点击查看大图 标准号 JEDEC JESD22-A104F-2020 2020年