JEDECSTANDARDLowTemperatureStorageLifeJESD-A119NOVEMBER004Reaffirmed:September009JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATION
0 文档热度: 文档分类: 行业资料--国内外标准规范 文档标签: 电子设备电子元器件低温贮存 JEDECSTANDARDLowTemperatureStorageLifeJESD22-A119NOVEMBER2004JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATIONNOTICEJEDECstandardsandpublicationscontainmaterialthathasbeenprepared,reviewed,andapprovedthroughtheJEDECBoardofDirectorslevelandsubsequently...
JEDECSTANDARDLowTemperatureStorageLifeJESD22-A119A(RevisionofJESD22-A119,November2004,ReaffirmedSeptember2009)OCTOBER2015JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATIONNOTICEJEDECstandardsandpublicationscontainmaterialthathasbeenprepared,reviewed,andapprovedthroughtheJEDECBoardofDirectorslevelandsubsequentlyreviewedandapprovedbytheJEDECl...
Computer Display Stability Climate Test Equipment Temperature and Humidity Test Machine With JESD22-A119 Standard $2,000.00 - $4,580.00 Min. order: 1 set JIS K 6259 ASTM1149 ASTM1171 Digital Rubber Plastic Climatic Ozone Aging Test Chamber Machine for Lab $2,589.00 - $7,500.00 Min....
JESD22简介+目录列表.docx,顺序 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 9. 10. 11. 12. 13. 14. 15. 16. 17. 18. 19. 20. 21. 22. 详细如下 标准 编号 A100 A101 A102 A103 A104 A105 A106 A107 A108 A109 A110 A111 A112 A113 A114 A115 A117 A118 A119 A120 A121 A122 简称 THB AC HTSL TC
标准编号:A119 现行版本:Nov 2004 标准状态:现行 标准项目:低温贮存寿命 标准编号:A120 现行版本:A XXX 2008 标准状态:现行 标准项目:用于集成电路的有机材料的水汽扩散率以及水溶解度试验方法 标准编号:A121 现行版本:A Jul 2008 标准状态:现行 标准项目:锡及锡合金表面镀层晶须生长的测试方法 标准编号:A122 ...
A119 LOWTEMPERATURESTORAGELIFE低温贮存寿命: Thetestisapplicableforevaluation,screening,monitoring,and/or本试验可用于所有固态器件的评估,筛选,监控以及鉴定。低 qualificationofallsolidstatedevices.LowTemperaturestoragetest温贮存试验通常用于确定在贮存条件下,时间和温度对固态电低温贮存寿命 istypicallyusedtodeterminethe...
54、ive.20.JESD22-A119JESD22-A119A119 低Published:Nov-2004发布:2004年11月温贝上存LOWTEMPERATURESTORAGELIFE低温贮存寿命:本试验可用于所寿命Thetestisapplicableforevaluation,screening,monitoring,有固态器件的评估,筛选,监控以and/orqualificationofallsolidstatedevices.Lo及鉴定.低温贮存试验通常用于wTemperaturesto...
JESD22标准 Name Name Abbreviatio A100循环温湿度偏置寿CycledTemperature-Humidity-Bias 命 LifeTest A101稳态温湿度偏置寿命 STEADY-STATETEMPERATURE-HUMIDITYBIAS LIFETEST THB A102加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 ACCELERATEDMOISTURERESISTANCE-UNBIASED AUTOCLAVE A103高温贮存寿命 HIGHTEMPERATURESTORAGELIFE HTSL A104温度...
A119 Nov 2004 现行 低温贮存寿命 20. A120 A Jan 2008 现行 用于集成电路的有机材料的水汽扩散率以及水溶解度试验方法 21. A121 A Jul 2008 现行 锡及锡合金表面镀层晶须生长的测试方法 22. A122 Aug 2007 现行 功率循环 23. B100 B Jun 2003 现行 物理尺寸 24. B101 B Aug 2009 现行 外部目检 25...