通信行业:在通信设备的制造和测试过程中,可以使用《JESD22-A104F中文版》的标准来评估和验证相关的可靠性要求。 汽车工业:《JESD22-A104F中文版》可以用于汽车电子部件的测试和验证,以确保其在恶劣环境条件下的可靠性和耐久性。 航空航天领域:飞机和航天器的电子设备和组件需要经受极端环境的考验,使用《JESD22-A104...
A104 D Mar 2009 现行 温度循环 6. A105 C Jan 2004 现行 上电温循 7. A106 B Jun 2004 现行 热冲击 8. A107 C Apr 2013 现行 盐雾 9. A108 D Nov 2010 现行 温度,偏置电压,以及工作寿命 10. A109 B Nov 2011 现行,指向军标 密封 11. A110 D Nov 2010 现行 高加速温湿度应力试验(HAST)(有偏...
A104 D Mar 2009 现行 温度循环 6. A105 C Jan 2004 现行 上电温循 7. A106 B Jun 2004 现行 热冲击 8. A107 C Apr 2013 现行 盐雾 9. A108 D Nov 2010 现行 温度,偏置电压,以及工作寿命 10. A109 B Nov 2011 现行,指向军标 密封 11. A110 D Nov 2010 现行 高加速温... 文档格式:DOCX |...
A104 TEMPERATURECYCLING:温度循环: Thisstandardprovidesamethodfordeterminingsolidstatedevices本标准提供了一种用于确定固态器件耐受极限温度循环能力的 capabilitytowithstandextremetemperaturecycling.Changesinthis方法。在本修订版中,改变之处包括最坏条件下,加载温度而温度循环 ...
JEDEC JESD22-A104F :2020 Temperature Cycling - 完整英文电子版(15页).zip 上传者:leavemyleave时间:2021-10-01 【最新版可复制文字】 JESD22-A104F温度循环.pdf 【最新版可复制文字】 JESD22-A104F温度循环.pdf 上传者:std86021时间:2022-11-28 ...
1、JESD22标准列表及简介(中英文) 英文部分是从JEDEC.org网站获取,中文部分为自己翻译,不保证中文译稿翻译的准确和完整性。因此,请批判性的使用本文档。顺序号标准编号现行版本 最后一次检查标准版本是在2014-6-20标准状态标准项目1.A100D Jul 2013现行循环温湿度偏置寿命2.A101C Mar 2009现行稳态温湿度偏置寿命3...
JESD22-A104温度循环标准的表1 4.烘烤 在125 +5/-0°C下至少烘烤24小时,这一步是为了去除封装上所有的水分,使其“干燥”。 注1: 如果被预处理的特定SMD上的祛湿数据显示需要不同的温度条件来获得“干燥”的封装,则此时间/温度可以修改。执行吸附和祛湿曲线的流程参见J-STD-020。
作为半导体相关的行业的从业者,或多或少会接触到JEDEC标准。标准对硬件系统的设计、应用、验证,调试等有着至关重要的作用。 JEDEC(全称为 Joint Electron Device Engineering Council)是一个电子元件工程标准制定组织,致力于为半导体行业制定、推广和维护工程标准。JEDEC 的标准涵盖了各种半导体器件,包括动态随机存取存储器...
A104 D Mar 2009 现行 温度循环 A105 C Jan 2004 现行 上电温循 A106 B Jun 2004 现行 热冲击 A107 C Apr 2013 现行 盐雾 A108 D Nov 2010 现行 温度,偏置电压,以及工作寿命 A109 B Nov 2011 现行,指向军标 密封 A110 D Nov 2010 现行 高加速温湿度应力试验(HAST)(有偏置电压未饱和高压蒸汽) ...
JEDEC JESD22-A104F :2020 Temperature Cycling(温度循环) JEDEC JESD22-A105D:2020 Power and Temperature Cycling(功率和温度循环) JEDEC JESD22-A106B.01:2016 Thermal Shock(热冲击) JEDEC JESD22-A107C:2013 Salt Atmosphere(盐雾) JEDEC JESD22-A108F:2017 Temperature, Bias, And Operating Life(温度,偏置...