电子产品制造业:《JESD22-A104F中文版》可应用于电子产品的制造和测试过程中,为确保产品的可靠性和稳定性提供指导。 通信行业:在通信设备的制造和测试过程中,可以使用《JESD22-A104F中文版》的标准来评估和验证相关的可靠性要求。 汽车工业:《JESD22-A104F中文版》可以用于汽车电子部件的测试和验证,以确保其在恶劣...
JESD22-A104-B JEDEC STANDARD Temperature Cycling标准温度循环.pdf,JEDEC STANDARD Temperature Cycling JESD22-A104-B (Revision of JESD22-A104-A) JULY 2000 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION NOTICE JEDEC standards and publications contain material that
标准号 JEDEC JESD22-A104F.01-2023 2023年 总页数 18页 发布单位 / 适用范围 该标准适用于空气或其他气体介质中的单室、双室和三室温度循环,并涵盖元件和焊料互连测试。 购买 正式版 JEDEC JESD22-A104F.01-2023 中可能用到的仪器设备 低温恒温器 ...
JESD22标准列表及简介(中英文) 1. A100 D Jul 2013 现行 循环温湿度偏置寿命 2. A101 C Mar 2009 现行 稳态温湿度偏置寿命 3. A102 D Nov 2010 现行 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4. A103 D Dec 2010 现行 高温贮存寿命 5. A104 D Mar 2009 现行 温度循环 6. A105 C Jan 2004 现行 上电温循 ...
JESD22-A104 EN KR JP ES RU DE 本专题涉及JESD22-A104的标准有7条。 国际标准分类中,JESD22-A104涉及到。 在中国标准分类中,JESD22-A104涉及到基础标准与通用方法、受计算机控制的电子器具。 未注明发布机构,关于JESD22-A104的标准 JEDEC JESD22-B104C-2004(2009)机械冲击试验方法 JESD22-B104C (修订自...
该标准是对JESD22-A104的补充,针对高功率条件下半导体器件的结温热阻测试,规定了具体方法和参数。 1. **问题完整性判断**:用户问题明确提供了标准名称(JESD22-A105)、定位(A104的补充)以及内容范围(高功率条件下的结温热阻测试方法和参数),无缺失或模糊描述,符合完整性问题要求。 2. **答案有效性判断**:根据...
JESD22标准列表及简介(中英文) 1. A100 D Jul 2013 现行 循环温湿度偏置寿命 2. A101 C Mar 2009 现行 稳态温湿度偏置寿命 3. A102 D Nov 2010 现行 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4. A103 D Dec 2010 现行 高温贮存寿命 5. A104 D Mar 2009 现行 温度循环 6. A105 C Jan 2004 现行 上电温循 ...
JEDEC JESD22-A104F-2020 中可能用到的仪器设备 低温恒温器 其他标准 IEC 60410:1973 计数检查抽样方案和程序JEDEC JESD28-A-2001 测量DC压力下最大基层电流N-信道MOSFET Hot-Carrier-Induced降级JEDEC JESD63-1998 极端电路密度和温度的电迁移模型参数的标准方法JEDEC JESD90-2004 为测量P路 MOSFET负偏压温度不稳...
JESD22标准列表及简介(中英文) 1. A100 D Jul 2013 现行 循环温湿度偏置寿命 2. A101 C Mar 2009 现行 稳态温湿度偏置寿命 3. A102 D Nov 2010 现行 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4. A103 D Dec 2010 现行 高温贮存寿命 5. A104 D Mar 2009 现行 温度循环 6. A105 C Jan 2004 现行 上电温循 ...
JEDEC Standard No. 22-A104F 标准名称:温度循环测试方法A104F(修订自JESD22-A104E,2014年10月) 适用范围:本标准适用于单室、双室和三室的空气或其他气体介质中的温度循环测试。包括组件和焊接接头的测试。 在单室循环中,负载放置在一个静止的室中,并通过引入热或冷空气进行...其他...