现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”,通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。 高端扫描系统 JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束...
捷欧路JEOL JEM-F200 场发射透射电子显微镜有着精炼的外型,全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI,使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现,与旧机型相比,电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种...
现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”,通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。 扫描系统 JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描...
1)低电压下出色的成像能力(1nm@1kV) 2)100nA束流,快速制备TEM薄片 3)130mmXY行程及-40~93°双向倾转 4)Check&GoTM,无需切换硬件即可在STEM和SEM模式切换 5)TEM-LinkageTM,加工后直接转入JEOL透射电镜,不会有样品掉落风险 03JEM-F200 场发射透射电镜 特点: 1)高分辨率冷场电子枪可选,配有Flash&GoTM快速...
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。 产品规格: 超高分辨极靴 高分辨极靴 分辨率 TEM点分辨率 ...
4DCanvas“可以安装到JEM-ARM300F和JEM-ARM200F中。 注意:在不久的将来,可以安装到JEM-F200。 软件 “4DCanvas”具有创建从4D数据重建的合成STEM图像的软件。 软件可以映射每个电子探针位置的光束位移量和方向,得到电磁场矢量图,其分量是强度和方向。
品牌:日本电子 日本电子JEM-F200新概念冷场发射透射电镜 环保节能 品牌:日本电子 日本电子JBX-6300FS 电子束光刻系统 通信设备 品牌:日本电子 日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 细分数据 品牌:日本电子 日本电子JEM-2100 时间分辨电子显微镜及相关附件...
収集TEM式断層撮影用プロセス 走査型電子顕微鏡JSM-IT710HR 分析用2次電子高解像度 走査型電子顕微鏡JSM-IT210 分析用コンパクト自動 走査型電子顕微鏡JSM-IT200 分析用CCD自動 走査型電子顕微鏡JCM-7000 分析用3D卓上 X線放射分光器SXES
—2023年5月9日—JEOL电镜/核磁产品研讨会邀请函为了能够使广大用户更好地了解JEOL最新电镜/核磁产品的发展情况并提高实操技术,JEOL将联合内蒙古工业大学举办一次技术交流会。会议将重点介绍内蒙古工业大学最新安装的JEM-F200场发射透射电镜原理及操作以及JEOL核磁共振波谱仪的相关介绍。会议地点&联系人会议时间:2023年5月...
JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起,实现了高度稳定性和高分辨率,以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单,按照该菜单,操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。 装置主体● 可配置Cs校正器和CFEG● 高速高精度的stage 与现有的马达驱动控制相比...