环境温度和偏压应该设置,在高温测试时,应使器件结温≥125℃,在低温测试时,应使器件结温≤负10℃。 设计用于扩展温度环境的设备可能在温度高达250°C时受到应力。 应力温度可能超过工作温度,但不超过该技术的绝对最大额定温度和电压 。 3.2.2 工作电压 (1)应使用the maximum operating voltage,这个是不要算电压加速...
JEDEC JESD22A108是关于芯片IC高温工作寿命试验的标准，旨在通过电压和温度的加速测试评估器件在实际使用条件下的长期可靠性。以下是关于该标准的一些关键要点：试验目的：主要理解电压和温度对器件随时间的影响。通过加速老化过程，更有效地评估器件的寿命。试验设备配置：测试电路系统需防止器件过应力，避免热...
JEDECSTANDARDTemperatureBiasandOperatingLifeJESD-A108GRevisionofJESD-A108FdatedJuly017NOVEMBER0JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATIONCopyrightSolidStateTechnologyAssociationProvidedbyS&PGlobalunderlicensewithJEDECOrderNumber:037486Soldto:CEPREI[70016610861
总结而言，JEDEC JESD22-A108标准为评估芯片IC在高温工作条件下的寿命提供了详尽的指南，通过严格遵循这些规范，制造商和研究机构可以更准确地预测器件的长期性能和可靠性，为产品的设计、生产和质量控制提供坚实的基础。
JEDEC STANDARD Temperature, Bias, and Operating Life JESD22- A108F (Revision of JESD22-A108E, December 2016) JULY 2017 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Solid State Technology AssociationProvided by IHS under license with JEDEC Licensee=SHENZHEN ACADEMY OF STANDARDIZATION 9972181Not for Resale,...
JEDEC STANDARD Temperature, Bias, and Operating Life JESD22- A108E (Revision of JESD22-A108D, November 2010) DECEMBER 2016 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION
需要金币:*** 金币(10金币=人民币1元) JEDEC JESD22-A108F-2017 Tem 国外国际规范.pdf 关闭预览 想预览更多内容,点击免费在线预览全文 免费在线预览全文 国外标准国际标准规范国外标准国际标准规范 下载文档 收藏 分享赏 0 内容提供方:xiaoqingtian
AEC-Q100标准解读之JEDEC JESD22-A108 High Temperature Operating Life(HTOL),AEC Q100-008 Early Life Failure Rate(ELFR) High Temperature Operating Life(HTOL) 参考标准:JEDEC JESD22-A108; 目的:评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力;
通用闪存(UFS)卡扩展3.0版, Universal Flash Storage (UFS) Card Extension Version 3.0, 提供JEDEC JESD22-A108F-2017的发布时间、引用、替代关系、发布机构、适用范围等信息,也提供PDF预览(如果有PDF)以及下载地址(如果可以下载)。
在进行芯片IC的高温工作寿命试验时,JEDECJESD22-A108标准提供了详细的指导。该标准主要关注电压和温度对器件随时间的影响,并提出了加速因素。其用途包括资格认证、监控以及作为早期失效的筛选。在测试过程中,需要注意不能过度应力器件,避免热失控现象。同时,测试电路应限制功耗,减少不当散热,并使用校准过的设备进行电源和...