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JESD51-2A 上传者:weixin_45865627时间:2021-01-05 JESD220-2B UFS Card Extension Standard JESD220-2B UFS Card Extension Standard 上传者:drkshcn时间:2022-05-18 显示/光电技术中的Vishay推出基于蓝宝石的新型高强度SMD LED 为满足对白光 LED 日益增长的需求,Vishay 宣布推出基于蓝宝石的新系列高强度白光 ...
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JEDEC JESD51-2-1995 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080 半导体分立器件。 JEDEC JESD51-2-1995 综合电路热测试方法 环境条件 自然对流(静止空气)的最新版本是哪一版? JEDEC JESD51-2-1995已经是当前最新版本。
在中国标准分类中,jedec51涉及到半导体分立器件综合、标志、包装、运输、贮存、半导体集成电路、电子设备机械结构件、微电路综合、通用电子测量仪器设备及系统、电真空器件综合、技术管理。(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于jedec51的标准JEDEC JESD51-51-2012 用于测量带暴露冷却的发光二极管的实际热阻和阻抗的电气测试方法...
JEDEC JESD51-2A-2008 集成电路热测试方法环境条件自然对流(静止空气)JEDEC JESD51-6-1999 集成电路热测试方法环境条件强制对流(流动空气)GB/T 43257.6-2023 放射性物品运输容器安全试验方法第6部分:耐热试验GB/T 17573-1998 半导体器件分立器件和集成电路第1部分;总则GJB 7366-2011 包装状态下核战斗部及其部(组)件...