JEDECSTANDARDPowerandTemperatureCyclingJESD-A105DRevisionofJESD-A105CJanuary004ReaffirmedJanuary011JANUARY00JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATIONCopyrightSolidStateTechnologyAssociationProvidedbyAccurisunderlicensewithJEDECOrderNumber:0389374Soldto:CEPREI
JESD22-A102:封装IC无偏压PCT试验,评价非气密封装器件在水汽凝结或饱和水汽环境下抵御水汽的完整性。 JESD22-A104:温度循环测试,让IC零件经受极高温和极低温之间的来回温度转换,以评估其可靠度。 JESD22-A105:功率和温度循环测试,适用于受温度影响的半导体元器件,过程中需要在指定高低温差条件下,开启或关闭测试电源,...
JEDEC JESD22-B111A：2016 Board Level Drop Test Method of Components for Handheld Electronic Products(手持式电子产品元件的板级跌落测试方法)JEDEC JESD22-B112B ：2018 Package Warpage Measurement of Surface-Mount Integrated Circuits at Elevated Temperature（高温下的表面贴装集成电路的封装翘曲测量）JESD22-B...
JEDEC JESD22-B111A:2016 Board Level Drop Test Method of Components for Handheld Electronic Products(手持式电子产品元件的板级跌落测试方法) JEDEC JESD22-B112B :2018 Package Warpage Measurement of Surface-Mount Integrated Circuits at Elevated Temperature(高温下的表面贴装集成电路的封装翘曲测量) JESD22-B...
JESD22-A105D-2020功率和温度循环 本测试适用于受温度影响的半导体元器件，过程中需要在指定高低温差条件下，开启或关闭测试电源，温度循环还有电源测试，是确认元器件的承受能力，目的是模拟实际会遇到的最差状况。推荐设备：冷热冲击试验箱 JESD22-A106B.01-2016温度冲击 进行此温度冲击测试，是为了确定半导体元器件，...
EIA / JESD22-A105-B:(Power and Temperature Cycling)功率和温度循环 JESD22-A105C:(Power and Temperature Cycling)功率和温度循环 JESD22-A106-A:(Thermal Shock)热冲击 JESD22-A108-B:(Temperature, Bias, and Operating Life)温度偏置和使用寿命(2000年版) ...
2 JESD22-A101 D.01 Jan 2021 现行 稳态温湿度偏置寿命 3 JESD22-A102 E Jan 2021 现行 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4 JESD22-A103 E.01 Jul 2021 现行 高温贮存寿命 5 JESD22-A104 F Nov 2020 现行 温度循环 6 JESD22-A105 D Jan 2020 现行 上电温循 ...
JESD22-A122A-2016功率循环测试 提供固态元件封装功率循环测试标准与方法,透过偏压的开关週期会造成封装体内温度分布不均匀(PCB、连接器、散热器),还有模拟待机睡眠模式与全载运转,并作为固态元件封装的相关连结的生命週期测试,此试验可补充与增加JESD22-A104或JESD22-A105的测试结果,此试验无法模拟严苛的环境如:引擎室...
JESD22-A122A-2016功率循环测试 提供固态元件封装功率循环测试标准与方法,透过偏压的开关週期会造成封装体内温度分布不均匀(PCB、连接器、散热器),还有模拟待机睡眠模式与全载运转,并作为固态元件封装的相关连结的生命週期测试,此试验可补充与增加JESD22-A104或JESD22-A105的测试结果,此试验无法模拟严苛的环境如:引擎室...
JEDEC JESD22-A103E.01:2021 High Temperature Storage Life(高温储存寿命) JEDEC JESD22-A104F :2020 Temperature Cycling(温度循环) JEDEC JESD22-A105D:2020 Power and Temperature Cycling(功率和温度循环) JEDEC JESD22-A106B.01:2016 Thermal Shock(热冲击) ...