《IEEE Electron Device Letters》在中科院2023年12月最新升级版中,大类学科工程技术位于2区,小类工程:电子与电气位于2区,非综述类期刊。 在JCR分区中,工程:电子与电气位于Q2。 03分区预测 《IEEE Electron Device Letters》近年来中科院分区等级十分稳定,维持2区,水平较高,期刊影响因子、发文量呈现向上的趋势,自引...
②IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS的自引率总体不高,2023年度为10.2%。 ③IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS最近五年发文量分别为448,459,417,429,522。 目前,发文量最多的国家为美国,我国国人发文2347篇,占比23.2%。 ④IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS发文量比较可观、影响因子4.9,国人占比23.2%,自引率很稳定,可以尝试投稿。
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS发表了与电子和离子集成电路器件和互连的理论、建模、设计、性能和可靠性相关的原创和重大贡献,涉及绝缘体、金属、有机材料、微等离子体、半导体、量子效应结构、真空器件和新兴材料,在生物电子学、生物医学电子学、计算、通信、显示器、微机电、 成像、微致动器、纳米电子学、光电子学、光...
出版区域:美国 定价:0 出版地址:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141 期刊邮箱: 投稿网址:http://mc.manuscriptcentral.com/edl 期刊网址: https://eds.ieee.org/publications/electron-device-letters 出版商网址: http://www.ieee.org IEEE...
IEEE 电子器件字母(Ieee Electron Device Letters)在中科院分区中位于2区,JCR分区位于Q2。审稿速度一般为 约1.3个月 ,且近两年没有被列入国际预警名单,您可以放心投稿。如果您需要投稿指导,可在线咨询我们的客服老师,我们将竭诚为您服务。 IEEE Electron Device Letters 发表与电子和离子集成电路器件和互连的理论、建模...
最新中科院分区: 期刊IEEE Electron Device Letters在2022年12月最新基础版与最新升级版中,分区如下。 刊文量 : 根据Web of Science收录的论文来看,2022-2023年度发文522篇,国人发文量占比排名第一 与杂志IEEE Electron Device Letters相似度较高的期刊,主要有以下类型及期刊: IEEE Electron Device Letters该刊的...
刊名 ISSN CN 主办单位 主管单位 IEEE Electron Device LettersEIPubMedAJSCIE中科院2区JCR:Q2 发文量15,850 被引量287,582 影响因子(2023)2.218 IEEE Electron Device Letters publishes original and significant contributions relating to the theory, modeling, design, performance and reliability of electron and...
Ieee Electron Device Letters ISSN:0741-3106 ESSN:1558-0563 国际标准简称:IEEE ELECTR DEVICE L 出版地区:UNITED STATES 出版周期:Monthly 研究方向:工程技术 - 工程:电子与电气 出版年份:1980 语言:English 是否OA:未开放 学科领域 工程技术 中科院分区...
0741-3106IEEE ELECTR DEVICE LIEEE ELECTRON DEVICE LETTERS工程:电子与电气ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC1工程技术2详情 注:本目录分类来源于中国科学院,参考“期刊印证报告”(JCR),所收集信息仅供科学研究使用。
0741-3106 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 工程技术2区 0165-1684 SIGNAL PROCESSING 工程技术2区 2573-0436 IEEE Transactions on Computational Imaging 计算机科学2区 1077-260X IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS 工程技术2区 0018-9529 IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY 计算机科学2区 ...