ICPMS的背景峰主要是由这些多原子离子结出的.它们有两组:以氧为基础质量较轻的—组和以氩为基础较重的一组,两组都包括含氢的分子离子。 例:16O2+干扰32S+ ③ 氧化物和氢氧化物离子; 在ICP-MS中,另—个重要的干扰因素是由分析物、基体组分、溶剂和等离子气体等形成的氧化物和氢氧化物,其中分析物和基体组...
1️⃣ 质谱干扰:ICP-MS中的质谱干扰,如58Ni对58Fe、40Ar对40Ca等,可通过元素校正方程式、冷等离子体炬焰屏蔽技术或碰撞池技术来降低。2️⃣ 基体酸干扰:HCl、HClO4、H3PO4和H2SO4等酸会引起质谱干扰。可通过碰撞池技术、色谱分离、电热蒸发技术或高分辨率ICP-MS来克服。3️⃣ 双电荷离子干扰:双电...
1、同量异位离子干扰 来源:两种不同元素的质量几乎相同的同位素所造成的干扰。 如:133In+——133Cd+ 115In+——115Sn+ 40Ar+——40Ca+ 消除:另选测定同位素、采用高分辨质谱仪、计算机软件校正。 2、多原子分子离子干扰 来源:在离子的引出过程中,由等离子体中的组分与基体或大气中的组分相互作用形成的多原子离...
ICP-MS测镉时确实可能会遇到干扰问题呢。主要来说,镉的测定可能会受到氧化钼的干扰,因为镉的多个同位素都可能会被氧化钼影响,导致测定结果不准确。这种干扰在单级ICP-MS中尤其明显,即使使用高分辨HR-ICP-MS也难以完全解决。不过,使用ICP-MS/MS的氧气模式可以同时准确测定镉与钼,这样就能有效避免干扰啦。 另外,在...
ICPMS课程-3ICP-MS中的干扰 第三章 ICP-MS中的干扰 ICP-MS中的干扰 质谱干扰 不能分辨的相同质量的干扰 非质谱干扰 源于样品基体 质谱干扰 同量异位素多原子氩聚合物Argides氧化物其它(如氯化物、氢化物等.)双电荷离子 同量异位素干扰 IsotopesVTiCrZrRuMoBaLaCe AMU...
区分ICP谱图常见的多原子离子(polyatomic ions)干扰信号,除了化学分离,分子离子反应等方法外,搭配高质量分辨率TOF的icpTOF具有天生的先发优势。 广告位 TOFWERK icpTOF提供高达7000的质量分辨率外,同时实现快速全谱图采集和所有元素同位素同步且精准分析能力。
在ICP-MS分析中,干扰可以分为以下几类: 1. 同位素干扰:不同元素的同位素可能具有相似的质荷比(m/z),导致谱线重叠。例如,铅(Pb)和钙(Ca)的同位素可能干扰彼此的检测。 2. 谱线重叠:当目标元素的谱线与其他元素或其同位素的谱线重叠时,会影响目标元素的测量精度。
那么,ICP-MS碰撞反应池是如何消除干扰的呢?以下将从原理、参数选择和应用实例三个方面进行介绍。 一、原理 1. 碰撞反应 碰撞反应池中采用了惰性气体(通常是氮气或氩气)作为反应气体,当样品离子进入碰撞反应池时,与惰性气体发生碰撞反应。在碰撞过程中,离子的动能被降低,从而使其在质谱仪中的漂移速度发生变化。这种...
1. 质谱干扰 ICP-MS中质谱的干扰(同量异位素干扰)是预知的,而且其数量少于300个,分辩率为0.8amu的质谱仪不能将它们分辩开,例如58Ni 对58Fe、 40Ar对40Ca、 40Ar16O对56Fe或40Ar-Ar对80Se的干扰(质谱叠加)。元素校正方程式(与ICP-AES中干扰谱线校正相同的原理)可...
ICP-MS中的干扰可分为两大类:“ 质谱干扰”和“非质谱于扰”。质谱干扰是 ICP-MS中见到的严重的干扰类型。 一、质谱干扰 1)多原子离子干扰 多原子离子干扰是常见的质谱干扰类型。这些离子顾名思义是由两个或多的原子结合而成的短寿命的复合离子,其干扰来源为:等离子体/雾化所使用的气体、溶剂/样品的基体组分...