1、同量异位离子干扰 来源:两种不同元素的质量几乎相同的同位素所造成的干扰。 如:133In+——133Cd+ 115In+——115Sn+ 40Ar+——40Ca+ 消除:另选测定同位素、采用高分辨质谱仪、计算机软件校正。 2、多原子分子离子干扰 来源:在离子的引出过程中,由等离子体中的组分与基体或大气中的组分相互作用形成的多原子离...
ICPMS的背景峰主要是由这些多原子离子结出的.它们有两组:以氧为基础质量较轻的—组和以氩为基础较重的一组,两组都包括含氢的分子离子。 例:16O2+干扰32S+ ③ 氧化物和氢氧化物离子; 在ICP-MS中,另—个重要的干扰因素是由分析物、基体组分、溶剂和等离子气体等形成的氧化物和氢氧化物,其中分析物和基体组...
解析 答案:同质量类型离子干扰多原子离子干扰双电离离子干扰难溶氧化物离子干扰 结果一 题目 ICP—MS法存在的主要干扰有 、 、 、 . 答案 答案:同质量类型离子干扰 多原子离子干扰 双电离离子干扰 难溶氧化物离子干扰相关推荐 1ICP—MS法存在的主要干扰有 、 、 、 .反馈 收藏 ...
A.同量异位素干扰B.多原子离子干扰C.氧化物和氢氧化物离子干扰D.双电荷离子干扰相关知识点: 试题来源: 解析 A,B,C,D
质谱干扰是 ICP-MS中见到的严重的干扰类型。一、质谱干扰1)多原子离子干扰多原子离子干扰是常见的质谱干扰类型。这些离子顾名思义是由两个或多的原子结合而成的短寿命的复合离子,其干扰来源为:等离子体/雾化所使用的气体、溶剂/样品的基体组分、样品中其他元素离子或者是来自周围环境氧气/氮气。例如:氩气等离子体中...
1.质谱干扰 ICP-MS中质谱的干扰(同量异位素干扰)是预知的,而且其数量少于300个,分辨率为0.8amu的质谱仪不能将它们分辨开,例如,58Ni对58Fe、 40Ar对40Ca、40Arl60对56Fe或40Ar-Ar对80Se的干扰(质谱叠加)。元素校正方程式(与ICP-AES中干扰谱线校正相同的原理)可用来进行校正,选择性地选用一些低自然丰度的同位...
ICP-MS中的干扰分为 型干扰和 型干扰。。为了保证质量轴正确,分辨率适当;保证离5. 调谐是为了得到最佳的子响应比例适当;将干扰的影响减小到最低。
那么,ICP-MS碰撞反应池是如何消除干扰的呢?以下将从原理、参数选择和应用实例三个方面进行介绍。 一、原理 1. 碰撞反应 碰撞反应池中采用了惰性气体(通常是氮气或氩气)作为反应气体,当样品离子进入碰撞反应池时,与惰性气体发生碰撞反应。在碰撞过程中,离子的动能被降低,从而使其在质谱仪中的漂移速度发生变化。这种...
三、总结 氧化物干扰是ICP-MS分析中需要注意的问题之一。通过优化仪器参数、使用化学抑制剂和选择合适的同位素等方法,可以有效地降低氧化物干扰,提高ICP-MS分析的准确性和精度。在实际应用中,应根据样品的特点和分析要求来选择合适的降干扰方法,以获得准确可靠的...
区分ICP谱图常见的多原子离子(polyatomic ions)干扰信号,除了化学分离,分子离子反应等方法外,搭配高质量分辨率TOF的icpTOF具有天生的先发优势。 广告位 TOFWERK icpTOF提供高达7000的质量分辨率外,同时实现快速全谱图采集和所有元素同位素同步且精准分析能力。