A.同量异位素干扰B.多原子离子干扰C.氧化物和氢氧化物离子干扰D.双电荷离子干扰相关知识点: 试题来源: 解析 A,B,C,D
四极杆质谱仪是一个由四个平行的导电棒组成的质量过滤器,只有具有一定质荷 比的离子才能通过,质量不符合要求的离子或与棒相碰撞或离开棒之间的轨道,被真空泵抽出系统。 射频和直流电场同时作用下的振动滤质器 四.质谱干扰 1. 光谱干扰:当等离子体中离子种类与分析物离子具有相同的质荷比,即产生光谱干扰。 光谱干...
1、同量异位离子干扰 来源:两种不同元素的质量几乎相同的同位素所造成的干扰。 如:133In+——133Cd+ 115In+——115Sn+ 40Ar+——40Ca+ 消除:另选测定同位素、采用高分辨质谱仪、计算机软件校正。 2、多原子分子离子干扰 来源:在离子的引出过程中,由等离子体中的组分与基体或大气中的组分相互作用形成的多原子离...
质谱仪允许用户在分析过程中添加内部标准元素,以补偿样品基质对结果的影响。通过比较目标元素和内部标准元素的信号比,用户可以更准确地分析样品中的目标元素浓度。 赛默飞ICP-MS质谱仪在处理干扰问题方面采用了多种技术和策略,包括多重反应监测、高分辨率质谱、校正和标准化、去除背景噪声以及基质匹配和内部标准法。这些技...
ICP-MS的干扰 1. 质谱干扰 ICP-MS中质谱的干扰(同量异位素干扰)是预知的,而且其数量少于300个,分辩率为0.8amu的质谱仪不能将它们分辩开,例如58Ni 对58Fe、 40Ar对40Ca、 40Ar16O对56Fe或40Ar-Ar对80Se的干扰(质谱叠加)。元素校正方程式(与ICP-AES中干扰谱线校正相同的原理)可用来进行校正,选择性地选用一...
质谱干扰是 ICP-MS中见到的严重的干扰类型。一、质谱干扰1)多原子离子干扰多原子离子干扰是常见的质谱干扰类型。这些离子顾名思义是由两个或多的原子结合而成的短寿命的复合离子,其干扰来源为:等离子体/雾化所使用的气体、溶剂/样品的基体组分、样品中其他元素离子或者是来自周围环境氧气/氮气。例如:氩气等离子体中...
ICP-MS中质谱的干扰(同量异位素干扰)是预知的,而且其数量少于300个,分辨率为0.8 amu的质谱仪不能将它们分辨开,例如58Ni 对58Fe、40Ar对40Ca、40Ar-16O对56Fe或40Ar-Ar对80Se的干扰(质谱叠加)。 可采用元素校正方程式对其进行校正,即选择性地选用一些低自然丰度的同位素、采用“冷等离子体炬焰屏蔽技术”或“...
质谱ICP—MS分析中遇到的干扰基本上分为两大类:质谱干扰和非质谱干扰。克服干扰的方法很多,一般可分为数学方法、物理方法和化学方法。 1.质谱干扰 一般而言,质谱干扰对分析物离子流测量的结果产生的是正误差。质谱干扰主要有四种类型: (1)同量异位素的重叠,当基体为十分复杂的样品时,这种干扰就更加常见,尤其样品中...
电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法是目前发展较快的一种新型元素痕量及超痕量分析检测技术，具有检出限低、线性范围宽、准确、快速、多元素同时分析等优点，在土壤和沉积物中重金属含量检测的应用日益广泛。而样品前处理是利用 ICP-MS 成功分析沉积物元素的关键，必须采用优化的消解条件将待测元素引入溶液。事实上，由于...
ICP-MS分析包括下面几个步骤: ①原子化 ②将原子化的原子大部分转化为离子 ③离子按照质荷比分离 ④计数各种离子的数目 原理: 雾化器将溶液样品送入等离子体光源,在高温下汽化,解离出离子化气体,通过铜或镍取样锥收集的离子,在低真空约133.322帕压力下形成分子束,再通过1～2毫米直径的截取板进入四极质谱分析器,...