GJB 548B-2005 下载积分: 500 内容提示: 文档格式:PDF | 页数:393 | 浏览次数:1000 | 上传日期:2018-12-18 08:52:55 | 文档星级: 阅读了该文档的用户还阅读了这些文档 69 p. Sound Velocities Near the Ground in the Vicinity of an Atomic Explosion 119 p. Effective Properties of ...
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内容提示: GJB 548C-2021 微电子器件试验方法和程序 方法 5005.3 鉴定和质量一致性检验程序 1 目的 本方法规定了半导体集成电路(以下简称“器件”)的鉴定和质量一致性检验程序,以保证器件和批的质量符合有关订购文件的要求。A 组、B 组、C 组、D 组和 E 组检验的全部要求,用于器件的初始鉴定、产品或工艺发生...
改前GJB548B-2005试验方法 改后GJB548C-2021试验方法 2005年10月2日发布，2006年1月1日实施 2021年12月30日发布，2022年03月01日实施 序方法编号试验方法名称 1方法1001 低气压（高空工作）修改类型 方法编号 方法1001 试验方法名称 低气压（高空工作）2方法1002 浸液 方法1002 浸液 3方法1003 绝缘电阻 方法...
GJB 548B-2005是微电子器件试验方法和程序的标准。这个标准规定了军用微电子器件的环境、机械、电气试验方法和试验程序，以及为保证微电子器件满足预定用途所要求的质量和可靠性而必须的控制和限制措施。如果承制方标明或声称其半导体集成电路符合本标准的规定，则必须满足方法5004、5005或5010（对复杂微电路）的要求，...
三、试验程序 试验计划与准备：根据微电子器件的特点和应用需求，制定详细的试验计划。准备所需的试验设备、仪器和材料，并确保试验环境符合要求。试验条件设置：按照试验计划，设置相应的试验条件，如温度、湿度、气压等。试验操作：按照GJB548规范进行试验操作，确保试验过程的准确性和一致性。数据记录与分析：详细记录...
GJB-548B-2005-微电子器件试验方法和程序 LT 箱内,与试验样品接触的所有零件,应当用不产生电解腐蚀的材料制造。该箱应适当通风,以防止产生 “高压” ,并保持盐雾的均匀分布; b) 能适当地防止周围环境条件对盐溶液容器的影响。如需要,为了进行长时间试验,可采用符合试验条 件C和D( 见3.2)要求的备用盐溶液容器...
GJB548C-2021 微电子器件试验方法和程序 方法 5004.3 筛选程序 1 目的 本方法规定了半导体集成电路(以下简称“器件”)整批筛选的筛选程序,以使其达到与预定用途相应的质量和可靠性水平。它应与规定了设计、材料、性能、控制的其他文件,如GJB 597B-2012 或相关详细规范一起使用,以便达到规定的器件质量和可靠性水平...
GJB548C-2021中PIND试验解析 新版GJB548C-2021中关于PIND试验解析 粒子噪声碰撞检测目的是检测封装腔体内存在的自由粒子，属于非破坏性试验，当多余物粒子质量足够大时，多余物与封装壳体碰撞激励传感器而被检测出来。GJB548C-2021相比GJB548B-2005，粒子碰撞噪声检测（简称PIND）变化较大是两个方面，一是更加明确了被...
进行gjb-548c-2021方法2013内部目检缺陷需要具备一定的专业知识，并且需要细致、耐心的工作态度。首先，需要对设备的各个部件进行观察，包括设备的表面和内部结构。其次，需要对设备的各个部件进行触摸和敲击，以感受部件的松紧度和是否存在异常声音。最后，需要对设备的各个部件进行对比和参照，以发现可能存在的缺陷。同时...