涉及温度变化的试验有GJB 360B—2009 的“温度冲击试验”、GJB 128A—1997 的“热冲击（液体-液体）”和“温度循环（空气-空气）”、GJB 548B—2005 的“热冲击”和“温度循环”试验。温度冲击试验的目的在于确定试验样品耐受高、低温极值交替冲击的能力，其中液体介质法用于评价试验样品经受温度变化速度更快的温度...
GJB 2600A-2009 引用标准 GB/T 191 GJB 1649 GJB 3514 GJB 4027A-2006 GJB 546 GJB 548B-2005 SJ 20526 被代替标准 GJB 2600-1996 适用范围 本规范规定了声表面波(SAW)器件(带或不带无源阻抗匹配元件)的通用要求。 本规范包括三个质量等级: S级(空间用高可靠器件)、B级(军用高可靠性器件)、C级(...
GJB 548C-2021 购买 正式版 GJB 548C-2021 中可能用到的仪器设备 材料/金相显微镜其他试验机水浴/油浴/恒温槽晶圆处理和测试半导体专用检测仪器设备 其他标准 GJB 571A-2005 不合格品管理GJB 4027A-2006 军用电子元器件破环性物理分析方法GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序GJB 360B-2009 电子及电气元件...
GJB 150.3A-2009标准中则明确表明，程序I-贮存试验至少进行7个循环(每个循环周期24h)；程序Ⅱ-工作暴露试验至少进行3个循环(每个循环周期24h)。另提出，当难以重现温度响应时，建议最多采用7个循环。03 温度稳定时间 GJB 150.3A-2009标准中表明试件暴露于高温环境中达到温度稳定后，再保持试验温度至少 2h。04 高...
关于GJB548 温度循环 保持时间 疑问 了解的进 [/url]方法1010A温度循环试验3.1计时部分,有这样一句话“但停留时间不得少于10min,负载应在15min 内达到规定的温度”,我的疑问是:按照定义,停留时间是“负载从放入试验箱至从试验箱取出之间的时间”,这样的话,停留时间应该大于负载达到规定温度的时间,这与上面的10...
- 集成电路:GJB 548B-2005(微电子试验程序)、GJB 597B-2012(通用规范) - 光电器件:GJB 5018-2001(筛选与验收要求) 3. 被动元件筛选规范 - 电阻类:GJB 244A-2001(薄膜电阻)、GJB 1432B-2009(片式电阻) - 电容类:GJB 4157A-2011(高可靠瓷介电容)、GJB 63C-2015(钽电容) - 电感/滤波器:GJB 2829...
GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 5997-2007 装甲车辆空调设备通用规范 GB/T 18663.1-2008 电子设备机械结构.公制系列和英制系列的试验.第1部分:机柜、机架、插箱和机箱的气候、机械试验及安全要求 GJB 1063A-2008 机载悬挂装置试验方法 GJB 2225A-2008 地面电子对抗设备通用规范 GJB 150.18A-2009 ...
GJB4.2-1983《舰船电子设备环境试验 高温试验》GJB548A-1996《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》GJB548C-2021《微电子器件试验方案和程序》 国外军用标准 MIL-STD-810H《环境工程考虑与实验室试验》 MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》 ...
军用装备实验室环境试验方法第16部分:振动试验GJB 150.16A-2009只做:频率 2Hz~3000Hz,位移≤51mm,载荷≤3000kg 军用通信设备通用规范GJB367A-2001 军用计算机通用规范GJB 322A-1998 军用电子测试设备通用规范GJB 3947A-2009 微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 ...
GB/T2423.9-2001《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cb:设备用恒定湿热》 GB/T 15969.2-2008《可编程序控制器第2部分:设备要求和测试》 GJB 150.9-2009《军用设备环境试验方法湿热试验》 GJB548A-1996GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》 ...