GJB 4027B-2021 中提到的仪器设备 X射线荧光光谱仪 具备对成份复杂的样品中的金属成份进行分析的能力用于测量元器件封装表面镀涂材料中的禁用材料含量的仪器。 扫描电镜-能谱仪 能够发射最小20kV的电子束到被分析材料的表面用于对元器件封装表面镀涂料材料进行禁用材料分析的设备。
国际标准分类中,GJB4027B-2021涉及到。 在中国标准分类中,GJB4027B-2021涉及到。 国家军用标准-总装备部,关于GJB4027B-2021的标准
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本附录规定了元器件进行 DPA 时, 对内部和外部的封装材料进行禁用材料分析的详细要求。军用电子元器件破坏性物理分析方法, Destructive physical analysis method of military electronic components, 提供GJB 4027B-2021的发布时间、引用、替
GJB 4027B-2021由国家军用标准-总装备部 CN-GJB-Z 发布于 2021-12-30,并于 2022-03-01 实施。 GJB 4027B-2021 军用电子元器件破坏性物理分析方法的最新版本是哪一版? 最新版本是GJB 4027B-2021。 GJB 4027B-2021的历代版本如下: 2021年GJB 4027B-2021军用电子元器件破坏性物理分析方法 ...