四大显微分析设备原理(SEM, TEM, AFM, STM) 这星期继续为大家献上 材料分析界的四大名谱动图 “紫外、红外、核磁、质谱” 紫外可见吸收光谱(UV-vis) 物质分子吸收一定的波长的紫外或可见光时,分子中的价电子会从低能级跃迁到高能级...
SEM:材料的表面形貌,形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息 TEM:材料的表面形貌,结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成 FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等 Raman:通过测定转动能及和振动能及,用来
1）SEM/场发射电子扫描电镜（形貌、EDS点/线/面Mapping；型号：捷克泰思肯/TESCAN MIRA 3）2）TEM/...
XPS分峰拟合原则-3-半峰宽FWHM设置原则。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关案例 - 探究号科技于20230419发布在抖音,已经收获了968个喜欢,来抖音,记录美好生活!
XPS数据解析参考资源-1-两本XPS数据手册。免费的分析、检测技术纯干货我们已经更新了很多,感谢每一位粉丝的关注和积极反馈!探究号科技会继续更新更多技术包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ - 探究号科技于20230413发布在抖音,已经收获了965个喜欢,来抖音
主营商品:测试狗、SEM测试、TEM测试、扫描电镜检测、同步辐射测试、XPS测试、SEM形貌检测、ICP-OES、XRD测试、BET测试、TG热重分析、RAMAN检测、红外光谱检测、DFT计算、AFM测试、SEM生物检测、XRD测试、TEM数据分析、XAFS数据分析 进入店铺 全部商品 11:05 f** 联系了该商品的商家 11:04 e** 联系了该商品的商...
材料剖析方法-材料中夹杂颗粒分析-AES和EDS的区别。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析 - 探究号科技于20230830发布在抖音,已经收获了968个喜欢,来抖音,记录美好生活!
Biesinger, The use of XPS, FTIR, SEM/EDX, contact angle, and AFM in the characterization of coatings. Journal of Materials Engineering and Performance, 1998. 7(3): p. 317-323.M.J. Walzak, et al., " The Use of XPS, FTIR, SEM/EDX, Contact Angle and AFM in the Characterization of...
MultiPak 软件实操 Ta掺杂碳C膜层图谱分析-C1s拟合。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析 - 探究号科技于20230731发布在抖音,已经收获了935个喜欢,来抖音,记录美好生活!
内容提示: The Use of XPS, FTIR, SEM/EDX, Contact Angle, andAFM in the Characterization of CoatingsM.J. Walzak, R. Davidson, and M. Biesinger(Submitted 6 November 1997; in revised form 23 January 1998)Coatings are applied to surfaces for a variety of reasons: to enhance their appearance...