01扫描电子显微镜(SEM)SEM (Scanning Electron Microscope) - 扫描电子显微镜:SEM是一种利用电子束扫描样品表面并产生图像的显微镜。通过聚焦的电子束和样品之间的相互作用,SEM能够生成高分辨率的表面拓扑图像,并提供有关样品形貌、成分和结构的信息。SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制...
AFM/SEM二合一显微镜-FusionScope作为一款全新的集成式显微镜,拥有强大的材料形貌表征能力。设备通过SEM侧向视野,精准定位探针位置,针对性地对目标区域进行扫描,在半导体加工、薄膜材料、磁性样品等领域都具有突出的应用优势。同时,FusionScope还具有免样品转移、高清快速成像、一键完成导航等优势,在实际测试中为研究者带来了...
SEM就是利用逐点成像，将试样表面的不同特性，按照先后顺序及比例变换成影像，例如二次电子像等。背散射电子像 扫描电镜的优点是：1）有较高的放大倍数；2）有很大的景深，视野大，成像富有立体感，3）试样制备简单。实例图片：射电子显微镜（TEM）TEM就是将聚焦电子束投影在很细的试样表面，通过试样透射电子束或者...
9.透射电子显微技术TEM10.扫描电子显微技术SEM 11.原子力显微镜AFM12.扫描隧道显微镜STM 13.原子吸收光谱...
这一功能凸显了SEM和AFM结合在磁力显微领域的巨大优势。与传统的AFM技术不同，FusionScope采用了自感应式悬臂梁技术，通过3D打印技术制备表面修饰钴铁层的探针，针尖的曲率半径约为10 nm，能够在纳米尺度上实现高精度的磁性测量。压阻自感探针技术通过悬臂梁背面惠斯通电桥设计电阻，实时反馈电压信号，轻松实现探针进针和...
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别 在研究纳米材料时,SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM分别可以观察纳米材料那些不同的特性? 一、名称不同 1、SEM,英文全称:Scanningelectronmicroscope,中文称:扫描电子显微镜。 2、TEM,英文全称:TransmissionElectronMicroscope,中文称:透射电子显微镜。
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QuantumDesign公司研发推出的全新FusionScope多功能显微镜将SEM和AFM技术深度融合,利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖,创新性地实现同一时间、同一样品区域和相同条件下的SEM&AFM原位精准定位与测量;测量时也可以实时观察AFM悬臂的尖端,在不需要转移样品的情况下,原位进行80° AFM与样品台同时旋转,对几乎所有样品(包括...
SEM 和AFM 是两种类型的显微镜,它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。 SEM 需要真空环境中进行,而AFM 是在空气中或液体环境中操作。环境问题有时对解决具体样品显得尤为重要。首先,我们经常遇到的是像生物材料这一类含水试样的研究问题。这两种技术通过不同的方法互为补偿,SEM 需要环境室,而AFM 则需要液体池。
2022年10月,美国Quantum Design公司重磅推出AFM/SEM二合一显微镜-FusionScope,将SEM和AFM技术融合在一台设备上。用户不需要将样品从一台显微镜移动到另一台显微镜,也不必使用两个不同的操作系统来分析样品上的同一位置,而是在同一用户界面内、同一位置进行互补性综合测量。 FusionScope提供了带有SEM功能的原子力显微镜的...