作为一种多波段仪器,PerkinElmer Spectrum 3™(图 1)可通过自动切换光学组件,进行从 近红外区域直到远红外区域的测量,为每个光谱区域的测量提供最佳性能. 对样品进行的绝大多数 FT-IR 测量,目前都是使用衰全反射(ATR)采样附件进行.然而,ATR 附件具备长波段能力,通常使用在中红外光谱区域内受限制于光学组件的截止...
超高温FT-IR光谱发射率测量系统校准方法第29卷第5期 2010年10月 红外与毫米波 J.InfraredMillim.Waves Vo1.29,No.5 October,2010 文章编号:1001—9014(2010)05—0367—05 超高温FT—IR光谱发射率测量系统校准方法 王宗伟,戴景民,何小瓦,杨春玲,潘卫东 (1.哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院,黑龙江哈尔滨150001;...
—法 测量 高纯 四氯 化 硅 中 的微量 三 氯 氢 硅 朱 新芳 李 、森 张 琪 一 , 、 — — \ 科学 院 卜海瓜 幅 研吒 所 .吼· 『海 摘 要 蕾哪博立 叶变 换红 外光谱 ’。技 术和 自制 光程 的不 错钢 液体 池 ,虐立 光纤 料 四氯 化硅 中微 量三 氟 氢硅 的 定量分...
超高温FT-IR光谱发射率测量系统校准方法
本文主要研究红外光的入射角度的偏移对FT-IR谱仪性能的影响,并分析红外光束线中影响光谱仪入射光入射角度的因素,为红外光束线的建设提供前期的理论指导。1基本原理及模拟FT-IR谱仪是一台Michelson干涉仪。其基本原理是利用分振幅法产生双光束以实现干涉。干涉图随光程差变化,利用干涉图和光程差的关系可得所要的光谱...
我看到很多研究二氧化钒薄膜的文献,很多文献都会对二氧化钒薄膜在高低温下的红外透射光谱进行测量..但是我要问,FT-IR本身有加热的装置吗,他们是怎么来测试高低温下的透射光谱的?是需要额外加什么加热装置的吗。今天我学校的测试中心询问了,他们说没有相关的加热装置。于是我想来这里请教虫友高手们。究竟是怎么测量的...
本文介绍了近年发展起来的,用带有望远镜光学装置的FT-IR光谱系统进行红外辐射源测定的遥感技术.以遥感发射和/或吸收测量方式,对某些红外源,如飞行器和摩托车尾气等进... 王俊德,罗蕴华,陈作如,卡海燕 - 《光谱学与光谱分析》 被引量: 10发表: 1988年 傅里叶变换红外光谱(FTIR)测量热气体温度 利用HITRAN数据库...
FT—IR法测量高纯四氯化硅中的微量三氯氢硅? FT—IR法测量高纯四氯化硅中的微量三氯氢硅 0评论 +关注 共0个回答上一条:求甲醇三塔精馏流程模拟图,必有重谢? 下一条:棒磨机如何装棒?三氯硅烷 CAS No:10025-78-2 国内供应商(21家)湖北东曹化学科技有限公司 VIP3年 备案 联系电话:027-83261266 产品...
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