ESD HBM测试是一种破坏性测试,通过模拟人体触摸电子设备时可能发生的静电放电,来测试电子设备对静电放电的敏感性。在测试过程中,通常使用静电发生器作为核心设备,用于产生静电放电。静电发生器可以模拟人体或其它物体在与电子设备接触时产生的静电放电。测试装置用于将静电发生器的输出信号传递给待测试的电子设备,以确...
通常采用ESD等级来表示设备的抗静电放电能力,如ESD Class 1、ESD Class 2等。 二、HBM测试方法 HBM测试是通过模拟人体模型的静电放电,评估电子设备的抗静电放电能力。HBM测试通常包括以下几个步骤: 1. HBM模型:HBM模型是模拟人体在与电子设备接触时产生的静电放电。根据标准要求,HBM模型的参数包括模型电阻、模型电容...
静电放电(ESD)是指具有不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的电荷转移,ESD会导致电子设备严重地损坏或操作失常,因而在芯片和系统设计中ESD是一项非常重要的指标。 目前的ESD测试标准有很多种,一般可分为芯片级和系统级,芯片级的测试包括多种静电放电模型,主要有人体模型(HBM)、机器模型(MM)、组件充电模型(CDM)...
具体来说,SGS选择以±15%的偏移量作为参考范围,且标准中明确规定,在ESD测试前后都需要对引脚的功能进行确认。因此,在进行ESD测试前,建议客户首先量测引脚的功能以确保其处于正常状态,完成ESD测试后,再次量测引脚的功能。 由于每个器件的引脚在ESD能力上存在差异,标准要求在进行ESD测试时,必须依据器件中结果最差的引脚...
半导体器件的 ESD 测试人体模型( HBM )及静电敏感度分级 ESD 对半导体器件、以及电子产品和系统的可靠性设计和生产制造是一项很重要的影响因素。对于电子元器件,人体可能是产生
进行器件HBM等级测试,通常使用3个样本,按照电压步长进行ESD失效阈值的表征。测试应在室温条件下进行,施加脉冲电压从最低等级开始。测试引脚组合有多种方式,包括Pin对VDD/VSS测试、Pin对Pin测试、VDD对VSS测试等。芯片静电敏感度分级(sensitivity classification)依据HBM测试结果划分等级,从CLASS 0到CLASS ...
主要的ESD测试是人体模型(HBM),机器模型(MM)和充电设备模型(CDM)。 有许多成熟的模型可以针对ESD事件测试半导体器件的可靠性,以确保有效性和可靠性。主要的ESD测试是人体模型(HBM),机器模型(MM)和充电设备模型(CDM)(图1)。 图1.用于 HBM、MM 和 CDM 测试的 ESD 模型。
( IEC 61000-4-2)来模拟环境的静电伤害,IC单体则会用HBM(JEDEC/MIL)来模拟生产过程的静电等级,或测试插座突破Surge/IEC 61000-4-5的标准,在测试讯号上原理基本都是相同,先针对机器内部电容充电到指定电压后,然后再对待测物放电(Discharge),就如同电池有正负电极一样,HBM, ESD Gun或Surge等都是红黑讯号接到待...
ESD静电测试案例应用: 根据客户要求,通过对电路模块(如图所示)静电放电测试,对产品的静电敏感等级进行分类。 ESD测试: HBM模式测试步骤 (1) 把样品固定,功能Pin对GND组合测试; (2)设置测试参数: HBM测试电压±8000V,Zap次数:3次,间隔时间:1秒3; (3) 放电结束后,停止测试 ...
由此可得知IEC61000-4-2的系统级测试拥有较大的充电电容,较小的放电电阻,也因此计算下来其测试电流会比HBM高出5倍左右。这也是即使IC出厂时已经通过HBM测试,到组装成系统后却仍需要额外的ESD保护器件(TVS)来协助通过IEC61000-4-2 测试的原因。 TLP测试(Transmission Line Pulse Test)...