TLP 是一种使用 ESD 型振幅平坦脉冲的测量系统。由于这种平坦的脉冲,可以在类似 ESD 的事件期间测量电压和电流。后续脉冲可用于构建类似ESD响应事件的 IV 曲线,不仅提供开启信息,还提供导通状态电阻和故障信息。当小信号模型无法预测此行为时,此类信息对于 ESD 钳位设计至关重要。 最常见的 TLP 系统是提供 100 ns ...
通过TLP测试，可以获得防护器件的关键性能参数，便于在生产制造过程中调整相关的设计，从根本上提高产品的ESD防护能力，保证良率。（2）在产品通过型测试中，为了更好地量化不同情形下的ESD冲击，一般分为五种不同的模型。包括工业界作为产品片上ESD等级衡量标准的：HBM、CDM、MM模型和针对板级和系统级ESD防护的IEC...
换言之,TLP设备可模拟各种形式的ESD脉冲,在静电损伤和上升沿触发两方面都可以提供近似的模拟,因此,也可以认为两者是一致的。而在这种近似认同下,则TLP可以提供ESD过程中的IV、IT、VT三种不同的关键曲线,而这种曲线是其它模型所不能提供的。 需要注意的是:TLP脉冲式方波,与真实情况有一定的出入,虽然可以近似模拟,但...
VF-TLP与TLP原理大致相同,不同的是TLP的脉冲发生器产生的是上升沿10ns,脉宽100ns 的方波,用来模拟HBM模型。VF-TLP产生的是上升沿0.1ns,脉宽10ns的方波,用来模拟CDM模型。其原理图如下图所示。VF-TLP采用的是低损电缆线,用来降低寄生参数,图中延迟线的作用是将入射波和反射波分开,方便算出电流。
TLP作为一种研究时域ESD事件下的集成电路技术和电路行为的方法,被广泛应用到终端产品防护性能设计、模块或集成电路芯片的防护性能研究中。本文通过介绍TLP的基本原理并提出一种新的测试方法,用以解决如何通过TLP测试进行干扰噪声注入来评估系统的ESD软失效问题,该方法在手机类产品测试中非常有效。
其TLP曲线如图三所示,在16KV HBM时压降不到6V。无源器件虽然很占面积,但是其ESD防护能力优异,同时还能与其它功能集成。 2.常规防护器件 在CMOS工艺下,寄生参数最为理想的器件当属SCR,其能满足部分射频芯片的需求,且面积远小于无源器件,泄放效率也较为优异,但是SCR Trigger Voltage过高的问题一直无法避免,即便是LVTSC...
系统会承受的钳位电压对于8000V的IEC ESD冲击而言,我们只需要看TLP曲线中16A的那一点 。对于这一个二极管而言,钳位电压大约是13.4V。TLP曲线的斜率对于理解二极管保护的好坏很重要。 绿色的曲线代表另一颗ESD保护二极管。更高的斜率代表它在对应电流时有更低的钳位电压。根据欧姆定律这条曲线的斜率为动态电阻1/Rdyn。
TLP,Transmission Line Plus,其实就是测试芯片引脚的IV特性,不过不是测试引脚DC电压下的电流,而是给芯片引脚一个脉冲,脉宽约为100ns,上升时间约为10ns(与HBM能量一致,之后TLP又有了5ns脉宽的规格,用来模拟CDM的工作特性)。用下面一张图就可以很好地理解TLP的原理,左边波形就是测量普通的IV曲线的图,右边的波形图是...
在这种情况下,采用传输线路脉冲(TLP)方法就是很好的下一步。所谓的TLP 测试,就是一种利用矩形短脉(50~200 ns)来测量ESD 保护元件的电流-电压特性曲线的方法。这个短脉冲用来模拟作用于保护元件的短ESD 脉冲,而恒定阻抗的传输线路可以生成恒定幅度的方波。