EIAJ ED-4702A - JEITA 星级: 49 页 JEITA EIAJ ED-4701-500 半导体器件的环境和耐久性试验方法 下载积分: 5000 内容提示: 文档格式:PDF | 页数:22 | 浏览次数:107 | 上传日期:2023-12-15 12:17:06 | 文档星级: 阅读了该文档的用户还阅读了这些文档 12 p. US 9399747 B2-2016 27 p. NMX-J...
ED4701-001_Environmentaland_endurance_test_methods_for_semiconductor_devices_(General) MIL-STD-750_1 Test Method Standard, Environmental Test Methods for Semiconductor Devices; Part1, Test Methods 1000 Through 1999 EIAJED-4701和GB试验方法
除了EIAJED-4701-001半导体器件环境和耐久性试验方法，静电放电发生器也符合国家军用标准GJB548A-96方法3015、国家军用标准GJB128A-97方法1020、MIL-STD-883D、EIAJED-4701。一、试验的实施 静电放电发生器试验应按照试验计划,采用对受试设备直接和间接放电的方式进行。它包括:——受试设备典型工作条件；——受试设...
EIAJ ED-4701-300半导体器件环境和耐久性试验方法.pdf,JEITA Standard of Japan Electronics and Information Technology Industries Association EIAJ ED-4701/300-3 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test I) (Amendment 3) E
需要金币:*** 金币(10金币=人民币1元) EIAJ ED-4701-100 半导体器件环境和耐久性试验方法.pdf 关闭预览 想预览更多内容,点击免费在线预览全文 免费在线预览全文 Standard of Japan Electronics and Information Technology Industries Association EIAJ ED-4701/100 Environmental and endurance test methods for semicon...
EIAJED-4701与GB试验方法对比 Copyright©2009,Cree,Inc.DavidChang,Ph.D.pg.1 Copyright©2009,Cree,Inc.DavidChang,Ph.D.pg.2 高温试验 一：试验方法分类 名词解释 Copyright©2009,Cree,Inc.DavidChang,Ph.D.pg.3 二：高温试验方框 Copyright©2009,Cree,Inc.DavidChang,Ph.D.pg.4 三：试验条件...
EIAJ ED-4701-200半导体器件环境和耐久性试验方法.pdf,Standard of Japan Electronics and Information Technology Industries Association EIAJ ED-4701/200 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Life test II) Established in August, 2
EIAJED-4701与GB试验方法对比 Copyright©2009,Cree,Inc.DavidChang,Ph.D.pg.1 Copyright©2009,Cree,Inc.DavidChang,Ph.D.pg.2 一：试验方法分类 高温试验 名词解释 Copyright©2009,Cree,Inc.DavidChang,Ph.D.pg.3 二：高温试验方框 Copyright©2009,Cree,Inc.DavidChang,Ph.D.pg.4 三：试验条件...
EIAJ ED-4701-400半导体器件环境和耐久性试验方法.pdf,Standard of Japan Electronics and Information Technology Industries Association EIAJ ED-4701/400 Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test II) Established in August,
摘要:EIAJED-4701-001半导体器件环境和耐久性试验方法,其中规定了静电放电发生器对半导体电子元件的抗扰度测试方法和结果判定,澳腾斯生产的静电放电发生器即可符合此标准。 除了EIAJED-4701-001半导体器件环境和耐久性试验方法,澳腾斯静电放电发生器也符合国家军用标准GJB548A-96方法3015、国家军用标准GJB128A-97方法...