导电性差的材料如无机非金属、有机材料、矿物及生物材料等,在EDS分析时会发生荷电效应,降低了有效加速电压,从而减低了元素的特征X射线强度。 5)分析区域均质、无污染。 1.3技术特点 1)能谱EDS的采样深度大约为1 μm,能快速、同时对各种试样的微区内Be-U的所有元素定性、定量分析。 2)对试样与探测器的几何位置...
扫描电子显微镜(SEM)是用细聚焦的高能电子束轰击试样表面,通过电子与试样相互作用产生的二次电子、背散射电子信息对试样表面或断口进行微区形貌及结构的观察 。现在的SEM一般都与EDS组合,利用EDS进行元素成分定性、定量分析;可应用于材料高分辨成像、电子产品如PCB板/FPC、半导体,光电材料、通讯行业材料形貌/腐蚀/微污染...
EDS微区化学成分分析:EDS通过测量X射线的能量来确定样品中元素的种类和含量。在高能电子束激发样品原子时,原子内层电子被激发,外层电子填补空位时释放特征X射线。探测器测量这些X射线的能量,从而确定样品中不同元素的种类和相对含量。 EDS的优势包括元素检测的准确性、高灵敏度(可测量到ppm级别的元素含量)、快...
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1.形貌分析 2.EDS微区化学成分分析 放大倍数:25×～650,000× 适应范围: 粉状、块状 (SU-8010) 放大倍数:20×—800,000×(二次电子像) 2.微区化学成分分析,元素分析范围:Be—U 适应范围: 粉状、块状 产品分类 所有产品 污水废水检测 生物质颗粒燃料检测 ...
检测服务 材料检测 机械性能 金相检验 化学成分 显微结构分析 检测辅助 试样加工 热处理 解决方案 微区成分能谱分析(EDS) 利用不同元素X射线光子特征能量不同的特点进行成分分析。上一个:扫描电镜形貌观察(SEM) 下一个:电子背散射衍射分析(EBSD) 更多 推荐资讯 ...
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