EBSD分析微区应力应变状态具有较高的空间分辨率、角度分辨率和应变敏感性。根据衍射花样的质量可定性评价应变的大小。通常用菊池线质量形成形貌图来判断，图中亮的区域说明菊池线质量高，对应的应变较小，而应变越大的区域图像越暗。⑸ 晶粒尺寸测量 EBSD 技术是利用晶体学信息的方法，在样品表面构建各晶粒的取向图， 空间分辨率可达数十
1.电子背散射衍射分析技术(EBSD/EBSP)20世纪90年代以来,装配在SEM上的电子背散射花样(Electron Back-scattering Patterns,简称EBSP)晶体微区取向和晶体结构的分析技术取得了较大的发展,并已在材料微观组织结构及微织构表征中广泛应用。 该技术也被称为电子背散射衍射(Electron Backscattered Diffraction,简称EBSD)或取向成...
基于EBSD自动快速的取向测量，EBSD可进行微织构分析，并且能知道这些取向在显微组织中的分布，这是织构分析的全新方法。3相鉴定 目前，EBSD可以对七大晶系任意对称性的样品进行自动取向测量和标定。结合EDS的成分分析可以进行未知相的鉴定。EBSD在相鉴定方面的一个优势就是区分化学成分相似的相，如：M7C3和M3C相，钢中...
01—EBSD原理简介 EBSD系统主要部件图 电子背散射衍射(EBSD,Electron Backscatter Diffraction)是一种结合晶体微区取向和晶体结构组织的分析方法,已广泛应用于材料微观组织结构和微织构表征。要使用EBSD系统,…
EBSD技术具有很高的空间分辨率,可以达到纳米级甚至更高级别。 这使得它在观察细小晶粒或者微观结构时非常有优势。 2.高取向精度 EBSD技术可以实现对晶体取向角度的准确测量,这使得它在研究晶体取向相关问题时非常有用。 3.快速数据采集 EBSD技术在获取衍射图样时速度较快、效率高,可以实现对大面积样品的快速扫描和数据...
1.EBSD简介 EBSD技术是在SEM的基础上发展起来的，它利用电子束与样品相互作用产生的背散射电子来获取样品的晶体学信息。当电子束进入样品后，会受到样品内原子的散射，其中一部分电子因散射角大而逃出样品表面，这些电子称为背散射电子。这些背散射电子在离开样品的过程中，如果与样品的某个晶面族满足布拉格衍射条件2d...
背散射电子衍射装置(EBSD):是扫描电子显微镜(SEM)的附件之一,它能提供如晶间取向、晶界类型、再结晶晶粒、微织构、相辨别和晶粒尺寸测量等完整的分析数据。EBSD数据来自样品表面下10-50nm厚的区域,且EBSD样品检测时需要倾转70°,为避免表面高处区域遮挡低处的信号,所以要求EBSD样品表面“新鲜”、清洁、平整、良好的...
EBSD系统的工作原理如下：1. 样品准备：将晶体样品放置在扫描电镜的样品台上，并调整至与水平面成70度角的位置，以便进行精确的衍射分析。2. 信号转换：样品在电子束的照射下产生背散射电子，这些电子的信号通过荧光屏转换成可见光。3. 图像捕捉：利用高灵敏度的CCD相机捕捉荧光屏上的电子衍射图案。4. 数据处理：...
X-光衍射或中子衍射 扫描电镜中的EBSD 透射电镜中的电子衍射 什么是EBSD技术? ·Electron Back-ScatteredPattern Electron Back-ScatteredDiffraction 电子背反射衍射技术简称EBSP或EBSD ·装配在SEM上使用,一种显微表征技术 ·通过自动标定背散射衍射花样,测定大块样品表面(通常矩形区域内)的晶体微区取向 ...
EBSD的空间分辨率略低于TEM/STEM技术,但对块状金属的相定量表征,却是首选方法。此外,EBSD还能测量亚微米尺度的晶格应变/旋转以及位错密度。 TKD可以对薄片试样进行透射电子衍射分析。与EBSD相比,样品和电子束之间的相互作用体积小,因此空间分辨率大大提高,从而可以在SEM中对金属的纳米晶体进行表征。 ECCI是一种对近表面...