5. 应变分析:在EBSD中可以从花样质量(PQ/IQ)来定性地评价晶格中的塑性应变,暗区代表花样质量低,亮区代表花样质量高,花样质量还可以区分组织中变形晶粒或再结晶晶粒,但IQ受到物相类别、晶粒取向、表面污染、样品制备和局部晶体完整性多因素的影响。 Fig.9 Ti3Al4V合金样品的花样质量图 由于金属的塑性变形很容易引起...
EBSD分析微区应力应变状态具有较高的空间分辨率、角度分辨率和应变敏感性。根据衍射花样的质量可定性评价应变的大小。通常用菊池线质量形成形貌图来判断,图中亮的区域说明菊池线质量高,对应的应变较小,而应变越大的区域图像越暗。⑸ 晶粒尺寸测量 EBSD 技术是利用晶体学信息的方法,在样品表面构建各晶粒的取向图, ...
EBSD花样质量受到多个因素的影响。这些因素包括样品的状态、电镜参数的设置以及数据获取软件的参数设置等。在EBSD中,样品表面的粗糙度、氧化层和残余应力会降低菊池花样的清晰度,降低标定率,并严重影响所获得的数据质量。因此,在制备样品过程中,需要使用多种抛光方法,以尽量提高样品表面的质量。电镜的加速电压越高,...
1、EBSD设备的基本原理 1.1 SEM设备基本原理 在介绍EBSD设备之前,首先来了解一下SEM设备,SEM的基本原理是入射电子束打到试样,产生二次电子和背散射电子,在旁边装上一个接收器,来接受并放大电子的信号来成像,这两种电子都是可以成像的。二次电子:在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品原子的核外...
图1. EBSD在陶瓷材料中应用 5.2 EBSD在合金中的应用 本案探究了一种高温合金在压缩和拉伸过程中发生的相变以及发生相变后的相分布的统计图。 从图中我们可以看到,EBSD在表征区域范围大这一点上有很大的优势,而且它可以统计出马氏体转变比例与应变大小的对应关系,并且还能获取拉伸和压缩大变形织构,而且还可以探究FCC...
背散射电子衍射(EBSD)形成原理:电子背散射衍射仪一般安装在扫描电镜或电子探针上。样品表面与水平面呈 70° 左右。当入射电子束进入样品后,会受到样品内原子的散射,其中有相当部分的电子因散射角大逃出样品表面,这部分电子称为背散射电子。背散射电子在离开样品的过程中与样品某晶面族满足布拉格衍射条件 2dsinθ ...
电子背散射衍射(EBSD)提供的基本信息相对简单: 每个分析点的物相识别和确认 每个分析点晶格的3D取向 EBSD技术以这两个主要信息为基础,可以额外提供许多微观组织的测量信息,如下所示。EBSD技术的性能取决于多种因素,包括:样品制备、扫描电子显微镜、电子束参数、EBSD探测器和软件,以及样品本身...
1973年,在扫描电镜上用电子背散射衍射花样对材料进行晶体学研究,开辟了 EBSD 在材料科学方面的应用。20 世纪 80 年代后期, 使用荧光屏和电视相机接收与采集电子背散射衍射花样。20 世纪 90 年代,实现了花样的自动标定。随着数码相机、计算机和软件的快速发展,现在的商品 EBSD 实现了从花样的接收、采集到标定完全...
从“动态”角度看,晶粒取向代表一种坐标变换或一种旋转操作的结构。上面公式也是将样品坐标系转到与晶体坐标系重合的旋转操作矩阵。 另一种表示取向的方法是用3个所谓的欧拉角对应的转动表示。先使两个坐标系重合,得到初始取向。按如下方式转动: 首先绕晶体的[001](也就是板法线ND)转动ψ1角,然后以转动后的[100...
EBSD是类似于X射线能谱仪(EDS)的SEM的一个标准附件,可以进行快速而准确的晶体取向测量和相鉴定分析。EBSD的工作原理 样品制备要求有哪些?EBSD取自样品表面5nm深度范围,要获得一张清晰的衍射谱,样品的制备极其关键。EBSD制样要求:样品表面高度光洁,因此测试前需对样品进行表面研磨,并用粒度≤0.5μm的抛光剂...