此外,在一些实施例中,在神经网络的学习过程期间出现的中间值可以存储在暂时性计算机可读介质120_1或非暂时性计算机可读介质120_2中。此外,在一些实施例中,最终预测的良率(例如,参数损失良率(ply)或缺陷损失良率(dly))可以存储在暂时性计算机可读介质120_1或非暂时性计算机可读介质120_2中。然而,本发明构思不限于此...
本发明涉及制程限制良率(processlimitingyield;ply)测试(也就是,良率监控),尤其涉及用于ply测试的方法及结构。 背景技术: 具体地说,在集成电路制造期间,执行在线测试以检测可能负面影响良率的兴趣缺陷(defectofinterest;doi)。可利用晶圆上测试结构直接在集成电路生产线中的特定制程之后执行这些测试(也被称为制程限制良...