可利用晶圆上测试结构直接在集成电路生产线中的特定制程之后执行这些测试(也被称为制程限制良率(ply)测试),该晶圆上测试结构包括可使用例如探针卡探测的一个或多个被测装置(deviceundertest;dut)。此类测试结构通常通过考虑下面的一个或多个因素来设计:被测装置(dut)敏感性;dut-区;dut-可测试性;成本-效益;以及测...
本发明构思涉及一种用于通过使用神经网络回归分析结果的模拟来基于半导体集成电路的参数损失良率(ply)预测半导体集成电路的良率的装置。 本发明构思还涉及一种用于通过使用神经网络回归分析结果的模拟来基于半导体集成电路的缺陷损失良率(dly)预测半导体集成电路的良率的装置。 本发明的构思还涉及一种基于半导体集成电路的...