此外,在一些实施例中,最终预测的良率(例如,参数损失良率(ply)或缺陷损失良率(dly))可以存储在暂时性计算机可读介质120_1或非暂时性计算机可读介质120_2中。然而,本发明构思不限于此。 总线130可以是处理器110、暂时性计算机可读介质120_1和非暂时性计算机可读介质120_2之间的连接路径。例如,由处理器110执行的计算...