DFT测试指的是在集成电路设计过程中采用可测试性技术(Design For Testability),以确保芯片在制造过程中能够高效、准确地进行测试。这一技术通过在设计阶段嵌入测试点和生成测试向量,提升了芯片的可测试性,从而降低了生产中的故障率。 DFT测试的核心原理 DFT测试的核心在于在芯片设计阶段就...