把Scan-En设成1,然后把enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,然后在输出端Scan-Out观测,用此种方法便可以测试Flip-Flop. 测试组合逻辑的时候,把Scan-En设成1,然后enable clock来驱动寄存器,在Scan-In端输入测试数据,两个时钟周期后,数据便会送到组合逻辑的输入端。 然后把Scan-En设成0,时钟打一...
图10:具有公共输入源的两个输入AND门 6。组合循环 当组合逻辑的输出反馈到其输入之一时,形成组合循环。 ATPG工具模拟设计,假设组合元素中的零延迟,这可能导致一个或多个输入组合的未确定输出。 图11:组合循环 如上所示,输入组合(A,B,C)=(1, 0,0)将在电路中产生振荡。为了防止这种情况,该工具打破了循环并将...
任何一个组合逻辑的输入要么接到前面的触发器上,要么接到输入PAD上,而组合逻辑的输入最终会接到后面的触发器的Dpin或者连到输出PAD上。所以,等扫描链加载上数据后,组合逻辑就有了激励,然后在SE为低时,时钟跳动一次,就可以将组合逻辑的最终响应捕获到后面的触发器里,然后再把SE切到高,把捕获的数据shift到输出PAD...
对于一些难以检测的fault可能要多次迭代测试 注意:有些fault点是测不到的,比如冗余逻辑。 练习: Scannable Equivalent Filp-Flop 上面的方法是测组合逻辑,而要测时序逻辑,则需要将DFF进行替换: 之后将所有替换后的DFF串起来形成一条链。 目的:方便将测试激励灌到任意DFF中。 方法: SE选中SI端,经过scan shift将测试...
作为结构性测试(structural test)的主要手段,DFT工程师需要注意的是电路的可测性,也就是可观测点和可控制点。在运用scan 测试方法的时候,整个芯片被看做是大量的寄存器和寄存器直接连接的组合逻辑。这也就是scan test开发的基本原理。 为了侦测生产过程中的制造缺陷,常用的方法并不是对芯片功能进行测试,而是从元器件...
Scan and ATPG：用于测试芯片中的组合逻辑及时序逻辑，确保设计的正确性。Mbist：专门针对芯片中的Ram和Rom进行测试，保证存储器的稳定性。Boundary scan (TAP)：通过测试芯片间的互联线路，确保信号的完整传输。ATE测试设备的应用 ATE（Automatic Test Equipment）在芯片测试环节发挥着不可或缺的作用。它能够自动化地...
下图给出带组合逻辑无scan功能之前的示意图: 下图是带组合逻辑+scan的结构图。 以上的图片来自在芯片设计和测试中scan和bist有什么区别? - 知乎 2.scan测试过程 scan的测试施加分为两个阶段:先测试触发器,然后测试组合电路部分。先测试触发器的原因是,对组合电路部分的测试控制和观察要用到触发器。
“南湖”是纯数字电路,由时序逻辑、组合逻辑、Memory组成;设计范例考虑常规soc芯片所需要的生产测试规格,若芯片有更高的测试要求(如车规芯片),可自行增加测试规格及对应的电路开发。 2. DFT 设计规格 “南湖”仍是采用结构化的DFT,可以通过EDA工具快速对design插入DFT电路以实现敏捷开发;“南湖”较“雁栖湖”DFT相关...
这种 的缺陷在TO的过程中是致命的,也是需要DFT工程师提前去排除的。实际上在DFT测试过程中最常用的 测试为全扫描测试,即将时序逻辑替换成带SI,SE端的SDFF(等效于在普通移位寄存器DFF的D端连一 个MUX,即最基础的扫描单元SDFF),然后将时序逻辑串起来,以便对组合逻辑进行测试。
DFT会在芯片中额外添加一些电路,这些电路可以让我们单独对某个或某些模块进行操作和观察,从而便于我们定位问题,测试芯片的正确性。 1.3 DFT的作用 1.3.1 测试时序逻辑 总所周知,组合逻辑的输出仅取决于输入。而时序逻辑是一个由触发器决定的有限状态机,我们无法仅凭输入来确定输出。因此,想要测试时序逻辑,我们必须先...