OCC通常具有三个功能:clock selection,clock chopping control,clock gate。 图1 Fast Scan 如图2所示,当项目属于极小规模时(寄存器数量小于2万),且管脚资源充分,每条scan chain都可以直接和pad连接,这种情况无需压缩逻辑,复杂度低,这时我们可以整个chip一起做scan insertion和ATPG,这种Scan测试架构称为Fast Scan。 ...
一种基于DFT设计的OCC架构的制作方法 DFT是什么? DFT是design for test(可测性设计)的缩写,就是在芯片设计过程中,加入可测性逻辑。有的公司把该职位归到前端设计,有的归到中端实现。 DFT职位大多分布于规模较大的数字IC设计公司里,因为大公司对芯片品质要求高,而且规模越大,芯片越贵,DFT就越复杂越重要。DFT主...
DFT主要是通过在芯片中加入可测性逻辑,等芯片制造出来,在ATE(AutomaticTestEquipment,自动测试仪)设备上通过可测性逻辑对芯片进行测试,挑出有制造缺陷的芯片并淘汰掉,留下没有制造缺陷的好芯片。这里需要强调下,DFT只负责挑出制造缺陷,至于逻辑缺陷那是前端设计工程师和验证工程师的职责,DFT工程师也鞭长莫及。 DFT的...
若STA约束对L3 Dataram的输入设置hold multicycle,设计范例将dft_l3dataram_clk挂载在低频的OCC上,利用两个OCC之间的hold multicycle来实现L3 Dataram的stuck-at ram sequential向量生成。 dft_ram_hold/dft_ram_bypass/dft_ram_bp_clken 南湖微架构采用基于sharedbus的MBIST设计方法,EDA生成的Mbist Controller和shared...
而OCC则更侧重于电路的可靠性验证，通过全面覆盖各种潜在故障，确保测试结果的准确性。深入理解和合理运用这两大技术，将进一步推动扫描测试的发展，为电路测试提供更有力的支持。Scan Chain Synthesis Flow在扫描测试中，综合流程是不可或缺的一环。通过这一流程，我们可以将原始电路转化为适合扫描测试的电路结构，从而...
OCC/OPCG/scan clock mux用途是什么?工作原理是什么?如何实现? A: OCC/OPCG/SCAN mux等等首先是实现Scan DRC fixing,然后是根据不同 clock domain 的具体要求,决定是仅仅进行 stuck-a t还是更一步的 at-speed 测试。 它的工作原理是采用一组串在Scan Chain上的FF,作为pulse数量控制寄存器来 Shiftin 预设数值...
设计范例中包含的结构化DFT电路如表所示:Structured DFTSpecificationMBISTMemory的内建自测试,一种高效的Memory测试电路OCC时钟控制电路,用于测试时钟的生成SCAN采用全扫描电路,另外使能了Wrapper ChainEDT“雁栖湖”有一定的寄存器规模,采用了EDT对scan chain进行压缩解压IJTAG对MBIST、EDT、OCC以及其他DFT的静态信号进行控制...
OCC/OPCG/scan clock mux: A:芯片的运行速度愈来愈快,从几十兆赫兹,到几百兆赫兹,再到几个Giga赫兹。但测试机台的发展却相对滞后(一般在一两百兆左右), 这就需要利用片上PLL提供at-speed测试时钟。 OCC (On-Chip Clock) 或 OPCG (On-Product Clock Gating)是为了做at-speed测试,在设计中增加的时钟控制...
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OCC通常具有三个功能:clock selection,clock chopping control,clock gate。 图1 Fast Scan 如图2所示,当项目属于极小规模时(寄存器数量小于2万),且管脚资源充分,每条scan chain都可以直接和pad连接,这种情况无需压缩逻辑,复杂度低,这时我们可以整个chip一起做scan insertion和ATPG,这种Scan测试架构称为Fast Scan。 ...