片上时钟控制器(On-chip Clock Controllers ,OCC) ,也称为扫描时钟控制器 (Scan Clock Controllers,SCC)。OCC 是插入 SOC 的逻辑,用于在 ATE(自动测试设备)上进行回片测试期间控制时钟。由于 at-speed test在capture mode下需要两个时钟脉冲,其频率续等于func mode下的最高时钟频率,因此在没有 OCC 的情况下,...
在DFT中,occ(occupied orbitals)是指占据态轨道,它们对系统的能量和性质起着重要作用。 占据态轨道是指在基态下由电子占据的能级。根据泡利不相容原理,每个轨道最多只能容纳两个自旋相反的电子。在计算中,我们将占据态轨道视为系统中的电子状态,它们的能量和分布决定了系统的性质和行为。 占据态轨道的数目等于系统中...
DFT专用术语解释系列(十三):OCC/ATPG 本次主要介绍OCC与不同架构的Scan/ATPG: OCC OCC(On-chip Clock Controller),片上时钟管理器,用于测试模式下管理clock的切换和pulse的产生。如图1所示,当OCC主要有三种信号输入:快时钟,慢时钟以及控制信号,当控制使能信号(以Test Mode为例)Test Mode为1时,OCC开始工作,实现快...
一种基于DFT设计的OCC架构的制作方法 DFT是什么? DFT是design for test(可测性设计)的缩写,就是在芯片设计过程中,加入可测性逻辑。有的公司把该职位归到前端设计,有的归到中端实现。 DFT职位大多分布于规模较大的数字IC设计公司里,因为大公司对芯片品质要求高,而且规模越大,芯片越贵,DFT就越复杂越重要。DFT主...
1.什么时候需要occ? dft对于at-speed的要求很多,单纯通过scan mux去选择clock处理不过来,需要使用occ。 occ用于调整pulse,在测transition的fault时候,切换高低速时钟。 在pll存在时候,会用occ。 一般在分频器后面需要加occ,但是也要分情况,如果分频器后面没有什么时序单元,或者分频出去的时钟端口没有连接到寄存器的时...
DFT测试-OCC电路介绍 https://www.jianshu.com/p/f7a2bcaefb2e SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是: 产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX; 插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。 通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M...
而OCC则更侧重于电路的可靠性验证，通过全面覆盖各种潜在故障，确保测试结果的准确性。深入理解和合理运用这两大技术，将进一步推动扫描测试的发展，为电路测试提供更有力的支持。Scan Chain Synthesis Flow在扫描测试中，综合流程是不可或缺的一环。通过这一流程，我们可以将原始电路转化为适合扫描测试的电路结构，从而...
DFT occ架构 dft engineer 近两年,随着IC行业的发展,DFT设计工程师越来越火。大家都知道,芯片在设计出来之后,测试是相当重要的一个环节,如果没有准确的识别出来bug,那么后果将会是非常严重的。 在超大规模集成电路时代,可测试性设计(DFT)就显得尤为重。它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性(包括可...
OCC(on chip clocking)DFT 下载积分: 1500 内容提示: 全速测试(at speed test) 2009-05-17 13:55: 50 全速测试(at speed test) 在工艺节点在 130nm 以下的时候, 很多情形下的物理缺陷都是由于延时来引起的。 因此在对这种类型的 chip 做 dft 的时候, 需要建立一个新的故障模型, 业内称之为延时故障...
OCC(On Chip Clock)结构如下: 注意: 1. slow_clk是类似dft_clk;这个时钟源由后端提供。个人认为所有dft_clk的来源,频率不一样,来源由后端决定,应该是测试引脚输入的吧?! 2. fast_clk是正常工作时钟源。 DFT工程师手里有三大法宝: 法宝一:BSCAN技术– 测试IO pad,主要实现工具是Mentor-BSDArchit,sysnopsy-...