片上时钟控制器(On-chip Clock Controllers ,OCC) ,也称为扫描时钟控制器 (Scan Clock Controllers,SCC)。OCC 是插入 SOC 的逻辑,用于在 ATE(自动测试设备)上进行回片测试期间控制时钟。由于 at-speed test在capture mode下需要两个时钟脉冲,其频率续等于func mode下的最高时钟频率,因此在没有 OCC 的情况下,...
DFT名词扫盲(十三)之 OCC/ATPG 本次主要介绍OCC与不同架构的Scan/ATPG: OCC OCC(On-chip Clock Controller),片上时钟管理器,用于测试模式下管理clock的切换和pulse的产生。如图1所示,当OCC主要有三种信号输入:快时钟,慢时钟以及控制信号,当控制使能信号(以Test Mode为例)Test Mode为1时,OCC开始工作,实现快慢时钟...
在DFT中,occ(occupied orbitals)是指占据态轨道,它们对系统的能量和性质起着重要作用。 占据态轨道是指在基态下由电子占据的能级。根据泡利不相容原理,每个轨道最多只能容纳两个自旋相反的电子。在计算中,我们将占据态轨道视为系统中的电子状态,它们的能量和分布决定了系统的性质和行为。 占据态轨道的数目等于系统中...
dft对于at-speed的要求很多,单纯通过scan mux去选择clock处理不过来,需要使用occ。 occ用于调整pulse,在测transition的fault时候,切换高低速时钟。 在pll存在时候,会用occ。 一般在分频器后面需要加occ,但是也要分情况,如果分频器后面没有什么时序单元,或者分频出去的时钟端口没有连接到寄存器的时钟端,不需要在分频器...
DFT测试-OCC电路介绍 SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M ,AC SCAN 也就是at-speed scan 即实速测试,测试...
而OCC则更侧重于电路的可靠性验证，通过全面覆盖各种潜在故障，确保测试结果的准确性。深入理解和合理运用这两大技术，将进一步推动扫描测试的发展，为电路测试提供更有力的支持。Scan Chain Synthesis Flow在扫描测试中，综合流程是不可或缺的一环。通过这一流程，我们可以将原始电路转化为适合扫描测试的电路结构，从而...
一种基于DFT设计的OCC架构的制作方法 DFT是什么? DFT是design for test(可测性设计)的缩写,就是在芯片设计过程中,加入可测性逻辑。有的公司把该职位归到前端设计,有的归到中端实现。 DFT职位大多分布于规模较大的数字IC设计公司里,因为大公司对芯片品质要求高,而且规模越大,芯片越贵,DFT就越复杂越重要。DFT...
因此对于transiton类型的物理缺陷由新的故障模型time delay model进行测试,业内称为延时故障模型(time delay model).解决方法就是全速测试,由于ATE无法提供function clock如此高的片内时钟,因此引入OCC电路结构。 OCC的基本原理是在scan shift模式下,选通慢速的ATE时钟进行load测试向量和unload测试结果,在capture模式下,...
DFT occ架构 dft engineer 近两年,随着IC行业的发展,DFT设计工程师越来越火。大家都知道,芯片在设计出来之后,测试是相当重要的一个环节,如果没有准确的识别出来bug,那么后果将会是非常严重的。 在超大规模集成电路时代,可测试性设计(DFT)就显得尤为重。它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性(包括可...
在这篇文章中,我们将介绍Occ DFT的工作原理。 Occ DFT的全称是Occupation Density Functional Theory,它是一种基于电子占据数密度函数的第一性原理计算方法。在Occ DFT中,我们需要计算材料中每个电子态的占据数密度,然后根据占据数密度函数确定材料的总能量、晶格参数、电子结构等性质。 Occ DFT的计算过程可以分为以下...