set tm slot dev dfx ddr timing-scan dram-index ext-vref命令用来进行芯片ddr接口时序窗口扫描。 命令格式 set tm slotslot-iddevchip-iddfxddrtiming-scandram-indexparam1ext-vrefparam2 参数说明 参数参数说明取值 devchip-id 芯片号。 整数形式,取值范围是0~7。
量是1GB 则申请 128MB 进行 测试,如果总容量是 2GB 则申请 256MB 进行测试。 <rkxxxx:/ #> /data/ddr_freq_scan.sh 933000000 <rkxxxx:/ #> /data/ddr_freq_scan.sh 800000000 <rkxxxx:/ #> /data/ddr_freq_scan.sh 600000000 130|rkxxxx:/ # /data/ddr_freq_scan.sh 800000000 already change ...
在这里,被选定的一组写周期用扫描缩放(ScanZoom)分离出来。参数门限进一步隔离出仅有12个写周期并仅在信号正边沿测量出两个信号的时间差(P4)。 WaveScan为您提供了一种可以测定DDR2设备的工具。
7731C_DDR_Scan_Package_V1.3.rar 文件大小:7.02 MB 下载次数:71 SC7731C_DDR_Scan_Package 本...
set tm slot dev dfx ddr timing-scan dram-index ext-vref命令进行芯片ddr接口时序窗口扫描。 命令格式 set tm slotslot-iddevchip-iddfxddrtiming-scandram-indexparam1ext-vrefparam2 参数说明 无 视图 诊断视图 缺省级别 3: 管理级 任务名称和操作类型 ...
DDR3 boundary-scan test.The article offers briefs information on CION Module/ SO-DIMM204-3 digital I/O module from Goepel Electronics Ltd.EBSCO_bspEdn Europe
the better the test coverage. But boundary scan has its limits where devices don’t have boundary scan or you need a broader fault spectrum than just shorts and opens, especially with today’s high-speed SerDes IO technologies and various bus topologies. ScanWorks Processor-based Functional Test...
1.通过触发到的波形,利用图形触发(Visual Trigger)选定大体的逻辑区域(in或者out),Kesight示波器是InfiniiScan; 2.通过看读和写的单波形,会发现,读和写DQS的前两个高低电平的宽度是不一样的,使用示波器的宽度(width)触发功能,来触发DQS。 注1:泰克Visual Trigger和是德InfiniiScan都是要单独购买的,这个钱千万不...
<rkxxxx:/ #> /data/ddr_freq_scan.sh 933000000 <rkxxxx:/ #> /data/ddr_freq_scan.sh 800000000 <rkxxxx:/ #> /data/ddr_freq_scan.sh 600000000 130|rkxxxx:/ # /data/ddr_freq_scan.sh 800000000 already change to 800000000 done.
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