1. 配置 DDR Range Scan 功能 編譯時執行makeUboot_config, 打開以下配置：2. 執行 nvt_ddr_scan ...
set tm slot dev dfx ddr timing-scan dram-index ext-vref命令用来进行芯片ddr接口时序窗口扫描。 命令格式 set tm slot slot-id dev chip-id dfx ddr timing-scan dram-index param1 ext-vref param2 参数说明 参数参数说明取值 dev chip-id 芯片号。 整数形式,取值范围是0~7。 dram-index param1 存...
核利斯 ScanDIMM-240 DDR2 边界扫描基于数字测试仪用户指南说明书
以往对于tDQSQ这一参数的Margin测试,通常采用调整采样信号时间沿,反复扫描的方式。这种方式的测试时间相对较长。下图是 tDQSQ的示意图,图中A点和C点之间的时间延迟就是tDQSQ。 图9 Multi-Scan Strobe 功能——测量tDQSQ 参考前文中Preamble/Postamble Timing的测试方法, Multi-Scan Strobe 功能可以很容易地获得A点...
系统框图如下: 添加DDR4 IP DDR4颗粒采用MT40A2G8VA-062E IT,配置如下: Basic Mode and Interface & Clocking Controller Options Advanced Clocking VIO IP配置 ILA IP配置 General Options Probe_Ports(0..7) Probe_Ports(8..15) Probe_Ports(16..18) ...
凌华科技已将此技术应用于大数据量的图像采集/处理/传输模块,尤其是线阵扫描(Line-Scan)图像采集系统,因为在检测时,需要在FPGA上执行图像数据计算的算法,一方面需要大容量的图像数据缓存,另一方面需要反复读取图像数据,则此技术是必需的。
扫描叠加轨迹图仅仅包括由WaveScan隔离出来的写操作周期。 图4 显示的是另一项测量技术。在这里,被选定的一组写周期用扫描缩放(ScanZoom)分离出来。参数门限进一步隔离出仅有12个写周期并仅在信号正边沿测量出两个信号的时间差(P4)。 WaveScan为您提供了一种可以测定DDR2设备的工具。
基于示波器的DDR4 信号实测,可以利用大家熟悉的 InfiniiScan 区域触发功能,很容易分离出“写”信号,再通过 Gating 功能对Burst 写信号做时钟恢复和眼图重建,再进行 Eye Contour 测量,并验证 1e-16 误码率下的眼图模板是否违规。如果是使用一致性测试软件,就不用手动操作,软件会自动跟踪和分离波形并实现眼图测试(如...
使用InfiniiScan是一种较好的方法,它使用画图式的图形触发分离出读和写,再累积成眼图,可以累积大量的数据,再测试建立时间、保持时间和其他参数,分离方法如下图: 3. 自动化一致性测试 因为DDR3总线测试信号多,测试参数多,测试工作量非常大,如果不使用自动化的方案,按Jedec规范完全测完要求的参数可能需要1到2周的时...
tDQSQ定义为DQS差分对的cross-point到 DQ输出的时间延迟。以往对于tDQSQ这一参数的Margin测试,通常采用调整采样信号时间沿,反复扫描的方式。这种方式的测试时间相对较长。下图是 tDQSQ的示意图,图中A点和C点之间的时间延迟就是tDQSQ。 图9 Multi-Scan Strobe 功能——测量tDQSQ ...