计算公式:Cpk = min[(X-Bar - LSL) / (3σ), (USL - X-Bar) / (3σ)],其中X-Bar为过程平均值,σ为过程的标准差。也可以表示为Cpk = (1 - K) * Cp,其中K为偏移系数,反映了过程均值与规格中心的偏移程度。 意义:Cpk值越接近Cp,说明过程的中心偏移越小。如果Cpk明显小于Cp,则...
N是数据点的总数。 如果数据是以小组、子组形式收集的(例如,每小时测量五次),可以使用小组的范围或标准差来计算σ。 例如当使用控制图(如X-bar和R图),就可以从控制图参数估算标准差,例如,从R图估算: 在X-bar和R图中,R(Range)指的是一个小组内的样本范围。它是该小组内最大值和最小值之差。例如,如果...
过程能力研究(CPK)--X-BAR管制图(带公式和数据)？？？有限公司X-R(控制图)拟制裁决 审核 批准 客户品号品名 170.7000 过程名管理项目规格 测试仪器测试单位测定周期 公司名日期测定人 对特殊原因采取对策的说明 ●任何超出控制限的点●连续7点全部在中心线之上或之下●连续7点上升或下降 问题描述 170.6800 x1...
CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。Xbar控制设计到控制方面，比如SPC, X-bar, R等。这个问题涉及的比较多，我给你推荐个网站---品质协会，那里面有很多这方面的信息，你自己先看看吧，有问题再查下。参考资料：http://www.pinzhi.org/forum-50-1.html...
假设X-bar略微偏离目标值（理想情况下应为0），如X-bar = 0.01mm 计算结果：Cpk = Min[(0.3 ...
Min{(USL-X bar)/3s,(X bar-USL)/3s} Ca=(实际平均值-规格中心值)/【(规格上限-规格下限)/2】=(X bar-U)/(T/2)*100% 注解: 1,PP,PPK的计算公式与CP,CPK计算公式相同。 2、区别:变差(标准差)σ的计算方式不同。 PPK时,。为标准差公式计算得来;cpk时,σ-R/d2度差=子组极差均值/变差常数...
CPK = Min(USL - Xbar, Xbar - LSL) / (3 * S)其中，USL为上限规格限，LSL为下限规格限，Xbar为样本平均值，S为样本标准差。整体CPK是基于所有样本的变异来计算的，它可以反映出整个过程的稳定性和一致性。整体CPK的计算公式为：CPK = Min(USL - Xdoublebar, Xdoublebar - LSL) / (3 *...
X-bar控制图计算公式 1.1.规格上限:上公差规格中心:(上公差+下公差)/2规格下限:下公差 2.1均值控制上限:均值控制中心+0.577*极差控制中心均值:X 2.2均值控制中心:AVERAGE(H6;H30)AVERAGE:平均值X的一栏 2.3均值控制下限;均值控制中心-0.577*极差控制中心 3.1极差控制上限:2.115*极差控制中心 3.2极差控制中心:...
假设X-bar略微偏离目标值(理想情况下应为0),如X-bar = 0.01mm 计算结果:Cpk = Min[(0.3 - 0.01) / (3 * 0.05), (0.01 - 0) / (3 * 0.05)] ≈ 1.93(取较小的值) 解析:Cpk考虑了均值偏移,因此值较Cp低。但仍大于1.33(通常认为Cpk>1.33表示过程能力良好),说明过程在可控范围内。
CPK通过 CPU或 CPL的最小值来计算,计算公式:CPU=(USL-X-bar)/3σ和 CPL=(X-bar-LSL)/3σ. 3.Cp:过程能力,仅适用于统计稳定过程,是过程在受控状态下的实际加工能力,不考虑过程的偏移,是过程固有变差(仅由于普通原因产生的变差)的 6σ范围,σ通常用 R-bar/d2或者s-bar/c4来估计。所以过程能力是用...