计算公式:Cpk = min[(X-Bar - LSL) / (3σ), (USL - X-Bar) / (3σ)],其中X-Bar为过程平均值,σ为过程的标准差。也可以表示为Cpk = (1 - K) * Cp,其中K为偏移系数,反映了过程均值与规格中心的偏移程度。 意义:Cpk值越接近Cp,说明过程的中心偏移越小。如果Cpk明显小于Cp,则...
CPK是制程能力指数的一种,它综合考虑了过程的离散性(即标准差)和过程的偏移程度(过程平均值与目标值的偏移),用于衡量一个制造过程的能力,即它在多大程度上符合规格或设计要求。CPK值越大,表示加工质量越好,质量越稳定。 在X-R控制图的基础上,可以进行CPK分析。具体来说,基于X-bar图和R图的数据,可以评估过程的...
SPC管制图之X-bar-RchartCPK计算.pdf,SPC 管制图之X-bar-RchartCPK 计算 极差 R 100.21000.34 100.27200.14100.21800.11100.2300 0.14100.22600.17100.22400.08100.26400.17 100.27000.1100.23200.13100.30600.1100.19400.06100.2420 0.1100.26800.14100.19000.09100.25800.
批准 客户品号品名 170.7000 过程名管理项目规格 测试仪器测试单位测定周期 公司名日期测定人 对特殊原因采取对策的说明 ●任何超出控制限的点●连续7点全部在中心线之上或之下●连续7点上升或下降 问题描述 170.6800 x170.6600 X170.6400 控170.6200制图170.6000 170.5800 170.5600 1 2 3 4 5 6 7 8 9...
集中趋势精确度Caˉx-M /(T/2)0.183 MAX100.340 MIN100.000 CpkU( USL-ˉx ) / 3σ0.856 CpkL ( ˉx -LSL )/ 3σ 1.239 Cpk MIN(CpkU,CpkL)0.856算法1 Cpk Cp*(1-|Ca|)0.856算法2 X-bar 图&CPK计算 _R _0.133USL _ RD 40.211597LSL RD 30.055402 ..©...
计算公式:Cpk = min[(USL - X-bar) / (3σ), (X-bar - LSL) / (3σ)],其中X-bar为过程平均值。也可以表示为Cpk = (1 - K) * Cp,其中K为偏移系数,反映了过程均值与规格中心的偏移程度。 意义:Cpk值综合考虑了过程的潜在能力和中心位置,更准确地反映了过程的实际能力。如果Cpk值...
Ca,Cp,Cpk值计算, 求教:某工厂某工序处于统计稳定状态,现有产品中某尺寸,其规格为50±5mm,而制程实际状况为X(bar)= 50.12 ,R(bar)=5
Cpk(实际过程表现指数)则综合考虑了过程的中心偏移和离散情况,用于评估过程的实际表现。计算公式为:Cpk = min[(USL - X-bar) / (3σ), (X-bar - LSL) / (3σ)],其中X-bar为过程平均值。也可以表示为Cpk = (1 - K) * Cp,其中K为偏移系数,反映了过程均值与规格中心的偏移程度。
x-bar cpk FormNo.:Q-J-PG-086/0 X-RChart 型号:特性unitUCL=X+A2R= 98.08 4116105XP24AA尺寸mm98.08 98.0898.0898.08 标准maxminaverageCL= 98.0898.08 98.00098.50097.80098.06898.07 98.0898.08 chartucllclclLCL=X-A2R= 98.0898.08 Xchart98.0898.0698.06898.059 98.0898.08 Rchart...
Cpk计算方法 & X Bar-R管制图 X-R管制图 产品名称：产品 控制特性：测量位置：测量工具：作成/日期：确认/日期：1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425 时间 1 2 3 45 mean #DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#...