CPK的计算公式为：\[ CPK = min\left( \frac{{USL \overline{x}}}{{3 \times Standard Deviation}}, \frac{{\overline{x} LSL}}{{3 \times Standard Deviation}} \right) \]其中，“USL”表示规格上限，“LSL”表示规格下限，“\overline{x}”表示
CPK计算公式 记作分布中心μ对于公差中心 M 的偏移为ε=|M-μ|,定义μ与 M 的相对偏移(偏移度)K 为: K的计算公式 则过程能力指数修正为: Cpk计算公式(修正) 这样,当μ=M(即分布中心与公差中心重合无偏移)时,K=0,CPK=CP,注意 CPK 也必须是在稳定状态下求得。
先来说说CP这个家伙哈。CP，它的计算公式是：CP = （规格上限 规格下限）÷（6×标准差）。这听起来有点复杂是不是？别担心，我给你举个例子你就明白。比如说，学校要做一批统一的小本子，规定本子的长度规格下限是15厘米，规格上限是17厘米。然后，经过测量，这些本子长度的标准差是0.5厘米（标准差就是表示...
Cpk = (1-K)*Cp= (1-2|M-μ|/T)*T/6σ =T/6σ-|M-μ|/3σ 从公式可知: Cpk=Cp-|M-μ|/3σ,即Cp-Cpk=|M-μ|/3σ,尽量使Cp=Cpk,|M-μ|/3σ是我们的改善机会。 例: 某车床加工轴的规格为50±0.01mm,在某段时间内测得平均值μ=49.995,...
探讨过程能力指数CP与CPK计算公式，关注双侧、单侧公差情况及有偏移情形下的计算。对于双侧公差情况，过程能力指数CP的计算基于技术公差T、上下公差限ut、Lt与总体标准差σ。当σ未知时，可通过样本的极差R与平均数R（bar），或样本的标准差S与平均数S（bar）估计。D2、C4为修正系数，根据样本组数量...
8。依据公式:Ca=(X‘-U)/(T/2),计算出制程准确度:Ca值 9。依据公式:Cp =T/6Sigma,计算出制程精密度:Cp值 10。依据公式:Cpk=Cp*(1-绝对值Ca),计算出制程能力指数:Cpk值 11。Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)
计算公式为:CP=(USL-LSL)/ 6σ. CPK CPK:过程能力指数,是在过程有偏移情况下的过程能力,前提是要过程稳定且数据是正态分布,而且数据应该在 25组以上(建议最少不要低于 20组,数据组越少风险越大),只考虑过程受普通原因的影响。因为过程只受到普通原因变差影响是理想状态下的,从长期来说过程总会受到各种特殊...
Cp与Cpk的计算公式 1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式 Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Cpk，Ca，Cp三者的关系：Cpk = Cp＊（1－┃Ca┃），Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系（集中趋势），Cp反应的...
Cp,Cpk,Pp,Ppk,Z 在MINITAB中的计算公式: CCpk = min { (USL - uST)/3sST , (mST - LSL)/ 3sST} Cp = (USL - LSL) / (6sST) Cpk = min { (USL - uLT) /3sST, (uLT - LSL)/3sST} CPL = (uST - LSL) / (3sST)