CDM测试的目标是确定设备是否能够抵抗静电放电并保持正常运行。 2. CDM测试方法 CDM测试方法分为两个步骤:CDM发电和CDM检测。CDM发电是在待测设备上施加静电放电,通常使用带电滑块或电容放电方法。CDM检测是通过测量设备上的电压和电流来评估设备对静电放电的抵抗能力。 3. CDM测试标准 CDM测试标准是制定工业标准,用
CDM测试的标准因产品类型、制造过程和测试条件而异。一般来说,CDM测试包括以下几个主要步骤: 1.准备测试样品:选择具有代表性的样品,确保样品清洁、干燥且无破损。 2.充电:将样品放入充电设备中,通过接触或非接触方式为样品充电。充电时间和充电电压取决于具体的测试条件。 3.放电:将充电后的样品放置在放电设备中,通...
国际电工委员会(IEC)最近批准并更新了其CDM测试标准IS 60749-2812。此标准全盘纳入JS-002作为其指定测试标准。 汽车电子理事会(AEC)目前有一个CDM小组委员会,其正在更新Q100-011(集成电路)和Q101-005(无源器件)车用器件CDM标准文件以纳入JS-002,并结合AEC规定的测试使用条件。这些工作预计会在2017年底完成并获批准。
随着IC芯片对高速IO的需求增加,以及在单一封装中集成更多功能的趋势,封装尺寸的增加对维持JEP157中推荐的CDM放电级别提出了挑战。考虑到不同测试设备的充电电阻差异,ESD协会(ESDA)在2020年的路线图中建议可能需要重新评估CDM放电目标级别。 图3:历年来CDM放电的目标级别 图4:CDM ESD目标级别的分布预期的变化 CDM测试...
标准号 JS-002-2014 2014年 发布单位 ESD - ESD ASSOCIATION 适用范围 该标准建立了根据器件和微电路暴露于定义的场感应带电器件模型 (CDM) 静电放电 (ESD) 时对损坏或退化的敏感性(敏感性)进行测试、评估和分类的程序。所有封装半导体器件@薄膜电路@表面声波(SAW)器件@光电器件@混合集成电路(HIC)@以及包含任何...
cdm静电测试标准 "CDM" 通常指的是"Charged Device Model"，即充电设备模型。CDM测试是一种用于评估半导体器件、集成电路（IC）等电子元件对静电放电（ESD）的敏感性的测试方法之一。这种测试方法涉及通过对器件施加特定电荷并观察其响应来模拟现实世界中的静电放电情况。以下是与CDM测试相关的一些主要标准：1.JEDEC JS...
CDM测试是一种对CDM系统进行全面评估的过程，目的是发现和解决潜在的问题，确保系统能够正常工作并满足预期的需求。CDM测试的标准主要包括以下几个方面：1.功能测试：确保CDM系统能够正常地提供内容分发服务，并且能够在不同的环境和场景下正常工作。功能测试通常包括测试CDM系统的基本功能（例如缓存功能、负载均衡功能等）...
国际电工委员会(IEC)最近批准并更新了其CDM测试标准IS 60749-28。12本标准将JS-002整体纳入其指定的测试标准。 汽车电子委员会(AEC)目前有一个CDM子团队委员会,更新Q100-011(集成电路)和Q101-005(无源元件)汽车设备CDM标准文件,以纳入JS-002,并具有AEC指定的测试使用条件。这些预计将于2017年底完成并获得批准。
图4显示了ESDA和JEDEC CDM标准验证模块的区别。ESDA标准提供两个电介质厚度选项,并结合验证模块(第二个选项是模块和场板之间有一层最多130 μm的额外塑料薄膜,用于测试带金属封装盖的器件)。JEDEC验证模块/FR4电介质代表一个单一小/大验证模块和电介质选项,支持它的JEDEC标准用户要多得多。 图4.ESDA和JEDEC验...
近日,美国ADI公司公布了一份关于新的ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 CDM测试标准的概览。这个新标准的发布是为了更好地评估集成电路(IC)装置对人造传输模式(CDM)静电放电的反应能力。 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 CDM测试标准是一个被广泛使用的测试标准,它被用来测试IC在制造和散热期间的安全性。在使用该测试标准的情况下,...