一:相较其他模型测试方式不同 CDM通过测试仪下面场板整体给芯片充电,然后通过连接到接地平面的pogo pin 依次给待测管脚放电 HBM&MM通过测试仪连接到芯片管脚进行pin to pin 测试 二:相较其他模型CDM波形振荡,上升时间和持续时间都很短 三:波形对测试仪设置非常敏感,并且在测试封装IC的情况下,对封装寄生参数非常敏感
CDM具有自充放电过程，模拟了IC在使用寿命期间通过各种方式(摩擦电或静电场感应)充电，并在内部积累大量静电荷。IC接地后，存储的电荷将放电到地面。CDM与其他模型差异 CDM测试方式不同。CDM波形振荡，上升时间和持续时间都很短。波形对测试仪设置非常敏感，测试封装IC时，对封装寄生参数敏感。主要影响因素...
2016最新版CDM测试原理 2016最新版CDM測試 EST883C 靜電放電模擬器CDM Tester 高精度1%和穩定性0.1% （電子元器件CDM靜電放電敏感度試驗）试验电压最宽：±1V～±2000V，精度最高：±0.5% 符合最新ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014標準，替代Replacement of ANSI/ESD S5.3.1-2009 & JEDEC JESD22-C101F 中國...