大的表面积归因于Bi前驱体继承的交联纳米片阵列结构拥有丰富空隙空间。XPS光谱表明多巴胺经过热解得到了大量氮掺杂的碳。此外,Bi@C-NSA的TEM能量mapping图证实了Bi、O、N和C元素的均匀分布,与XPS结果相吻合。一系列的结构表征证明Bi@C-NS...
在200℃退火处理后,Pt-Bi NRs的纳米环形貌和晶体结构依然保持,Bi元素均匀分布在纳米环上。XPS结果表明,退火处理后Bi3+的比例从46.2%上升至75.8%,氧化态转变为以Bi-O为主。Bi的FT-EXAFS结果表明SE-Bi1/Pt NRs中的Bi元素以单原子的...
由于 Bi在空气中不可避免的氧化作用,从 XPS 图中可知,Bi 结构表面确实存在大量的 Bi(III)元素。随着氧化时间的延长,Bi/Bi3+ 的比例逐渐降低,Bi-O/Bi-OH的比例逐渐增加,其中 Bi2O3-5 h 具有最强的 Bi-O 晶体结构。 ▲图2. Bi 和 Bi2O3-5 h 的(a) XRD 图谱;(b) Bi 4f XPS 图谱;(c) O 1...
铋元素 XPS 主峰:Bi4f 干扰峰:不适用 常见化学状态的结合能: 化学状态结合能 Bi4f7/2/eV 铋金属157 Bi2O3159 实验信息 不适用 XPS 光谱解读 Bi4f 区域具有明显的自旋轨道分裂峰 (Δ=5.3 eV)。 Bi4f 区域呈现出的铋金属峰形不对称。 铋化合物,如铋氧化物,具有对...
能量色散X射线(EDX)图谱分析表明,Cs、Bi、Br、Ti和O都均匀分布在材料中,进一步证实了Cs3Bi2Br9 NCs在TiO2上的均匀分散。XRD、TEM、XPS和光学性能研究深入探究了复合材料的组成和结构。纯TiO2的X射线粉末衍射(XRD)图和Cs3Bi2Br9与相应的标准板卡匹配良好。纯Cs3Bi2Br9的X射线衍射(XRD)图显示高结晶立方钙钛矿结构...
随后,采用XPS检测了循环后负极表面的化学成分。在负极一侧检测到了只能来自NCM622正极的过渡金属镍离子,表明在高温循环过程中发生了串扰(图3d,e)。在使用PE、Al2O3@PE和Bi-Sep隔膜的电池循环负极上,Ni 2p的原子含量分别为0.88%、0.72%和0.49%,表明Bi-Sep隔膜能够比其他同类产品更有效地减少化学串扰。
(e-h)(e)Bi2O2Se纳米片的HAADF图像以及(f)Bi、(g)O和(h)Se的相应元素图; (i-k)Bi2O2Se纳米片的XPS光谱。 图二、顶栅Bi2O2Se光电晶体管在405 nm波长处的光电特性 (a)云母上的顶栅Bi2O2Se光电晶体管的示意图; (b)具有不同光功率的设备的顶栅传输曲线(Ids-VG); ...
图 5d 和 e 显示了催化剂在 14 个测试周期前后的 Bi 4f 和 In 3d 归一化高分辨率 XPS 光谱,可以看出,在稳定性测试后,Bi3+ 和 In3+ 对应的峰值大大减弱,这与 XAFS 的结论(图 2a)一致。而与 Bi0 和 In0 相对应的峰仍然存在并相对增强,这表明 Bi0 和 In0 都应作为电催化中的活性位点,Bi0 和 ...
(c)BOB/LDH和(e)BOB/Bi/LDH的几何结构的侧视图,以及(d)BOB/LLDH和(f)BOB/By/LDH的电荷密度差,其中紫色、棕色、红色、黄色、灰色和白色的球指的是Bi、Br、O、Fe、Ni和H原子。(g)平面平均电荷密度差。(h)照明前后异质结界面状态变化的示意图。(i)光照后2-BNF中Ni 2p、O 1s和Bi 4f的ISI-XPS。
图1 Bi2O2Se单晶的性质表征 要点:XRD, XPS, 霍尔迁移率和载流子密度随温度变化,磁学;角分辨PES价带顶和导带底的等高图。 图2 表面形貌以及均一的带隙结构 图3 完整的能带结构表征(ARPES) 图4 表面图案的形成以及对能带结构的影响