设计:C835 06 ^标题:高达 1400C 的表面总半球发射率的标准测试方法 ^范围:1。范围 1.1 本量热测试方法涵盖了高达约 1400C 的金属和石墨表面以及涂层金属表面的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性(例如熔化温度、蒸气压)和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可在高达 1400 C 的温度下使用...
ASTM C835-06(2020) 引用标准 ASTM C168ASTM E230ASTM E691 适用范围 1.1 该量热测试方法涵盖了金属和石墨表面以及涂层金属表面高达约 1400°C 的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性(例如熔化温度、蒸气压)和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可在高达 1400 °C 的温度下使用。较低的使...
ASTM C835-06(2020)的标准全文信息,1.1 该量热测试方法涵盖了金属和石墨表面以及涂层金属表面高达约 1400°C 的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性(例如熔化温度、蒸气压)和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可在高达 1400 °C 的温度下使用。较低
ASTM C835-06(2020) 引用标准 ASTM C168 ASTM E230 ASTM E691 购买 正式版 1.1 该量热测试方法涵盖了金属和石墨表面以及涂层金属表面高达约 1400°C 的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性(例如熔化温度、蒸气压)和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可在高达 1400 °C 的温度下使用...
Designation: C835 − 06 (Reapproved 2013) ´1Standard Test Method forTotal Hemispherical Emittance of Surfaces up to 1400°C 1This standard is issued under the fixed designation C835; the number immediately following the designation indicates the year oforiginal adoption or, in the case of re...
绿色表示标准:ASTM C835-06(2020) , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准; 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。 点击查看大图 标准号 ASTM C835-06(2020) 2020年 总页数 11页 发布单位 美国材料与试验协会 ...
按照ASTM C835标准测试方法的设计,对于可直接通电加热的电导体材料,总半球发射率的最高测试温度可以达到1400℃。但从目前国内外研究报道来看,采用这种方法进行的测试极少能达到如此高的温度,绝大多数报道的总半球发射率测试温度范围都在1000℃以下,这说明这种方法在高温范围内的应用具有一定的局限性。 本文将对目前国内...
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1.1 本量热测试方法涵盖了金属和石墨表面以及涂层金属表面高达约 1400176;C 的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性(例如熔化温度、蒸气压)和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可用于 1400176;C.1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题