ASTM C835-06(2020) 引用标准 ASTM C168ASTM E230ASTM E691 购买 正式版 1.1 该量热测试方法涵盖了金属和石墨表面以及涂层金属表面高达约 1400°C 的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性(例如熔化温度、蒸气压)和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可在高达 1400 °C 的温度下使用。较低...
(5)鉴于ASTM C835标准测试方法在高温总半球发射率测试方面所面临的无解问题,但还要进行各种材料高温发射率的准确测量,因此我们建议采用另一种间接通电加热的量热法测量高温半球向发射率。这种测试方法与ASTM C835方法的主要却别是样品加热方式,在这种测试方法中,两片薄被测样品将薄发热体夹持在中间,发热体通电加热...
Designation: C835 − 06 (Reapproved 2013) ´1Standard Test Method forTotal Hemispherical Emittance of Surfaces up to 1400°C 1This standard is issued under the fixed designation C835; the number immediately following the designation indicates the year oforiginal adoption or, in the case of re...
设计:C835 06 ^标题:高达 1400C 的表面总半球发射率的标准测试方法 ^范围:1。范围 1.1 本量热测试方法涵盖了高达约 1400C 的金属和石墨表面以及涂层金属表面的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性(例如熔化温度、蒸气压)和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可在高达 1400 C 的温度下使用...
1.1 本量热测试方法涵盖了金属和石墨表面以及涂层金属表面高达约 1400176;C 的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性(例如熔化温度、蒸气压)和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可用于 1400176;C.1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题
ASTM C835-06(2020) 购买 正式版 1.1 本量热测试方法涵盖了金属和石墨表面以及涂层金属表面高达约 1400176;C 的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性(例如熔化温度、蒸气压)和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可用于 1400176;C.1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)...
ASTM C835-06(2020) 引用标准 ASTM C168ASTM E230ASTM E691 适用范围 1.1 该量热测试方法涵盖了金属和石墨表面以及涂层金属表面高达约 1400°C 的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性(例如熔化温度、蒸气压)和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可在高达 1400 °C 的温度下使用。较低的使...
06 013180;1up 400176;is 835; in of of A in of 180; an or 6 of up to 400176;C. is by of of up 400 176;C. is by of he I t,人人文库,
quantifying the emittance of materials near roomtemperature.1.2 This test method does not supplant Test Method C835,which is an absolute method for determination of total hemi-spherical emittance, or Test Method E408, which includes twocomparative methods for determination of total normal emit-tance....