检测中心 原子力显微镜AFM 一、KPFM 开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米...
原子力显微镜 (Atomic Force Microscopy, AFM) 和开环扫描电位显微镜 (Kelvin Probe Force Microscopy, KPFM) 是目前常用的两种测量表面电位差的方法。AFM通过探针与样品之间的相互作用力来测量材料表面的形貌,而KPFM则结合了AFM和电势测量技术,可以同时获得表面形貌和电势信息。 1.2 文章结构 本文将首先介绍AFM和KPFM的...
1.打开软件,导入AFM原数据(file-open),点击flatten,点击execute,然后点击roughness,可以得到结果,Ra为均方根粗糙度。点击上方的3D image 可以得到三维图。 2.点击色条,鼠标右键,可以修改色条范围(在有两组数据的时候,统一起来,做对比)。鼠标在图中右键-export -scree display 对于KPFM的操作也是如此:导入数据,点击...
测试项目:AFM 2D/3D形貌,粗糙度,相图,厚度,特殊模式:力曲线(Force curve)、QNM杨氏模量图、 KPFM表面电势图、PFM压电力显微镜、C-AFM导电力显微镜
AFM是基于STM技术发展而来的一种表面形貌分析工具。其工作原理是通过测量微悬臂探针与样品表面分子间的相互作用力，实现原子级表面形貌的观测。在扫描过程中，微悬臂的针尖与样品表面轻微接触，通过控制作用力恒定，记录下针尖位置变化，进而生成样品表面的三维图像。KPFM则主要用于半导体材料的微观形貌表征及表面...
F14H20分子聚集体的柔软性对扫描探针技术的表征提出了新的挑战。然而,边带和非共振KPFM可以与Park Systems的非接触模式相结合,从而允许对这些软分子结构进行稳定的形貌成像。 总结 边带KPFM,可扩展在Park NX研究型设备中,对测量如F14H20类似的软样品以及半导体和金属材料提供准确的表面电势研究。对静电力梯度的依赖性显...
2. 出众的扫描能力，适应各种样品和实验条件。3. 优异的可操作性，方便用户使用。4. 非凡的灵活性与功能性，满足多样化实验需求。测试项目：AFM 2D/3D形貌、粗糙度、相图、厚度等。特殊模式包括力曲线（Force curve）、QNM杨氏模量图、KPFM表面电势图、PFM压电力显微镜、C-AFM导电力显微镜等。
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经典案例覆盖薄膜表面形貌和粗糙度表征、纳米层状材料厚度表征、KPFM测试、CAFM测试、PFM测试、SCM测试以及PeakForce QNM测试。每个测试案例都详细展示了AFM在不同领域的应用，包括薄膜样品、二维材料、导电探针和样品表面的接触电势差测试、电流分布测试、压电材料和铁电材料的压电响应情况、半导体器件和材料中...