检测中心 原子力显微镜AFM 一、KPFM 开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米...
1.打开软件,导入AFM原数据(file-open),点击flatten,点击execute,然后点击roughness,可以得到结果,Ra为均方根粗糙度。点击上方的3D image 可以得到三维图。 2.点击色条,鼠标右键,可以修改色条范围(在有两组数据的时候,统一起来,做对比)。鼠标在图中右键-export -scree display 对于KPFM的操作也是如此:导入数据,点击...
AFM通过探针与样品表面的相互作用力来获取表面形貌信息。具体过程如下: 探针与悬臂:探针固定在悬臂末端,悬臂因表面作用力发生弯曲或振动。 激光检测:激光照射悬臂背面,反射光由光电探测器捕捉,记录悬臂的运动。 反馈机制:通过反馈系统调整探针与样品距离,保持作用力恒定,生成三维表面图像。 4. 制样方法 ...
原子力显微镜 (Atomic Force Microscopy, AFM) 和开环扫描电位显微镜 (Kelvin Probe Force Microscopy, KPFM) 是目前常用的两种测量表面电位差的方法。AFM通过探针与样品之间的相互作用力来测量材料表面的形貌,而KPFM则结合了AFM和电势测量技术,可以同时获得表面形貌和电势信息。 1.2 文章结构 本文将首先介绍AFM和KPFM的...
AFM与KPFM在纳米科技中的应用 AFM的作用与应用 原子力显微镜（AFM）在纳米科技领域发挥着至关重要的作用。它能够深入研究样品的表面形态、纳米结构以及链构象，从而获取关于纳米颗粒尺寸、孔径、材料表面粗糙度以及缺陷等详细信息。结合多样化操作模式和独特附件，AFM不仅提供高分辨率成像，还能同步获取样品的力学、电学、...
原子力显微镜(AFM测试)是一种强大的工具,用于研究材料的表面结构和性质。以下是几种常见的AFM测试模式及其应用: 🔍 常规AFM:用于表面形貌表征,提供2D、3D图像和表面粗糙度信息。 📉 表面电势/KPFM:测量2到3个点的表面电势。 📈 压电力显微镜/PFM:进行1个面扫描,测量几十个点的压电力,以及回字形的PFM扫描。
复达检测中心 KPFM测试和AFM测试都是原子力显微镜的不同测试模式。AFM主要用于表面形貌表征,提供2D、3D图像和表面粗糙度信息。而KPFM则主要用于测量样品的表面电势分布,可以得出材料界面功函数的大小,推断出内建电场的方向。简单来说,就是AFM看形貌,KPFM看电势。
AFM是基于STM技术发展而来的一种表面形貌分析工具。其工作原理是通过测量微悬臂探针与样品表面分子间的相互作用力，实现原子级表面形貌的观测。在扫描过程中，微悬臂的针尖与样品表面轻微接触，通过控制作用力恒定，记录下针尖位置变化，进而生成样品表面的三维图像。KPFM则主要用于半导体材料的微观形貌表征及表面...
为了比较边带KPFM和更常用的非共振KPFM,我们绘制了半氟化烷烃(F14H20)自组装聚集体的表面电势分布图。在这里,分子的电偶极子在聚集体和亚硝酸盐之间引入了一个显著的电位偏移。 图3:使用非共振和边带KPFM对相同的F14H20成像。横截面(红色)可以体现边带KPFM的横向和电势分辨率明显提高。
KPFM Teaching an old dog new tricks: Ti-doped ZnFe2O4 as active material in zinc ion batteries – a proof of concept by NANOSENSORS 1 July 2024 Science & Technology ZnFe2O4 is a well-investigated, versatile material with a spinel structure, which reportedly shows electrical conductivity in ...