KPFM能够在纳米尺度测量表面电势,具有很高的分辨率。KPFM是基于Tapping mode的振幅调制,是采用两次扫描的方法。第一次扫描通过轻敲模式获得样品的表面形貌,第二次扫描将探针抬起一定的高度,在探针或样品上加一个交流电压,利用第一次扫描得到...
AFM通过探针与样品表面的相互作用力来获取表面形貌信息。具体过程如下: 探针与悬臂:探针固定在悬臂末端,悬臂因表面作用力发生弯曲或振动。 激光检测:激光照射悬臂背面,反射光由光电探测器捕捉,记录悬臂的运动。 反馈机制:通过反馈系统调整探针与样品距离,保持作用力恒定,生成三维表面图像。 4. 制样方法 ...
块状样品需要固定好,避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果! 4、测试PFM、KPFM、C-AFM的材料需要将样品制备在导电基底上,基底大小符合块状样品的尺寸要求,KPFM、C-AFM的样品需要导电或至少为半导体。 5、PFM,KPFM测试需要样品表面十分平整,样品粗糙度最好在10-200 ...
KPFM在半导体材料中主要用于表征在原子尺寸下的微观形貌以及测量样品的表面电势分布,得出材料界面功函数的大小,推断出内建电场的方向,明确光电子的传输机制。 其原理是两种不同的材料相互接触时,由于两者功函数的不同会发生电荷转移并最终建立稳定的电势差,此时两者的费米能级拉平,接触界面两边的真空能级差值就是接触电势...
kpfm测试跟afm 复达检测中心 KPFM测试和AFM测试都是原子力显微镜的不同测试模式。AFM主要用于表面形貌表征,提供2D、3D图像和表面粗糙度信息。而KPFM则主要用于测量样品的表面电势分布,可以得出材料界面功函数的大小,推断出内建电场的方向。简单来说,就是AFM看形貌,KPFM看电势。
原子力显微镜(AFM测试)是一种强大的工具,用于研究材料的表面结构和性质。以下是几种常见的AFM测试模式及其应用: 🔍 常规AFM:用于表面形貌表征,提供2D、3D图像和表面粗糙度信息。 📉 表面电势/KPFM:测量2到3个点的表面电势。 📈 压电力显微镜/PFM:进行1个面扫描,测量几十个点的压电力,以及回字形的PFM扫描。
AFM与KPFM在纳米科技中的应用 AFM的作用与应用 原子力显微镜（AFM）在纳米科技领域发挥着至关重要的作用。它能够深入研究样品的表面形态、纳米结构以及链构象，从而获取关于纳米颗粒尺寸、孔径、材料表面粗糙度以及缺陷等详细信息。结合多样化操作模式和独特附件，AFM不仅提供高分辨率成像，还能同步获取样品的力学、电学、...
5. 测试PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要将样品制备在导电基底上,基底大小符合块状样品的尺寸要求,KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的样品需要导电或至少为半导体; 6.PFM,KPFM测试需要样品表面十分平整,样品粗糙度最好在10-200nm之间,粉末样品测试很难测到较好结果,下单前请确保风险可接受。
6. PFM,KPFM测试需要样品表面十分平整,样品粗糙度最好在10-200nm之间,粉末样品测试很难测到较好结果,下单前请确保风险可接受。 四、AFM原子力显微镜样品制备 由于AFM是纳米级别的表征手段,一般要求样品表面平整,若样品表面起伏较大,可能探测不到部分样品表面从而无法得到真实的形貌。制样通常要求样品固定到基底上,且...
原子力显微镜 (Atomic Force Microscopy, AFM) 和开环扫描电位显微镜 (Kelvin Probe Force Microscopy, KPFM) 是目前常用的两种测量表面电位差的方法。AFM通过探针与样品之间的相互作用力来测量材料表面的形貌,而KPFM则结合了AFM和电势测量技术,可以同时获得表面形貌和电势信息。 1.2 文章结构 本文将首先介绍AFM和KPFM的...