KPFM能够在纳米尺度测量表面电势,具有很高的分辨率。KPFM是基于Tapping mode的振幅调制,是采用两次扫描的方法。第一次扫描通过轻敲模式获得样品的表面形貌,第二次扫描将探针抬起一定的高度,在探针或样品上加一个交流电压,利用第一次扫描得到...
块状样品需要固定好,避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果! 4、测试PFM、KPFM、C-AFM的材料需要将样品制备在导电基底上,基底大小符合块状样品的尺寸要求,KPFM、C-AFM的样品需要导电或至少为半导体。 5、PFM,KPFM测试需要样品表面十分平整,样品粗糙度最好在10-200 ...
KPFM在半导体材料中主要用于表征在原子尺寸下的微观形貌以及测量样品的表面电势分布,得出材料界面功函数的大小,推断出内建电场的方向,明确光电子的传输机制。 其原理是两种不同的材料相互接触时,由于两者功函数的不同会发生电荷转移并最终建立稳定的电势差,此时两者的费米能级拉平,接触界面两边的真空能级差值就是接触电势...
KPFM通过测量探针与样品之间的接触电势差(Contact Potential Difference,CPD),从而得到样品的功函数和表电势分布图,同时也可以得到表面形貌,广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。 图4 Mg-Ca铸造合金的KPFM (5)PFM(Piezoresponse Force Microscope,压电力显微镜) PFM是在接触模式下用...
原子力显微镜 (Atomic Force Microscopy, AFM) 和开环扫描电位显微镜 (Kelvin Probe Force Microscopy, KPFM) 是目前常用的两种测量表面电位差的方法。AFM通过探针与样品之间的相互作用力来测量材料表面的形貌,而KPFM则结合了AFM和电势测量技术,可以同时获得表面形貌和电势信息。 1.2 文章结构 本文将首先介绍AFM和KPFM的...
6. PFM,KPFM测试需要样品表面十分平整,样品粗糙度最好在10-200nm之间,粉末样品测试很难测到较好结果,下单前请确保风险可接受。 四、AFM原子力显微镜样品制备 由于AFM是纳米级别的表征手段,一般要求样品表面平整,若样品表面起伏较大,可能探测不到部分样品表面从而无法得到真实的形貌。制样通常要求样品固定到基底上,且...
F14H20分子聚集体的KPFM研究 为了比较边带KPFM和更常用的非共振KPFM,我们绘制了半氟化烷烃(F14H20)自组装聚集体的表面电势分布图。在这里,分子的电偶极子在聚集体和亚硝酸盐之间引入了一个显著的电位偏移。 图3:使用非共振和边带KPFM对相同的F14H20成像。横截面(红色)可以体现边带KPFM的横向和电势分辨率明显提高。
7. PFM，KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200nm之间，粉末样品测试很难测到较好结果，下单前请确保风险可接受；测试案例 AFM 技术在生物学、物理学、材料科学和化学等领域有广泛应用，包括表面观察、尺寸测定、表面粗糙度测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶...
KPFM:电势的探针 🔧 KPFM(开尔文探针力显微镜)通过测量探针与样品之间的接触电势差(CPD),从而得到样品的功函数和表电势分布图。它广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。就像一个电势的探针,深入到材料的内部,揭示其电子结构的奥秘。 PFM:铁电材料的压电响应 🔧 ...
AFM是基于STM技术发展而来的一种表面形貌分析工具。其工作原理是通过测量微悬臂探针与样品表面分子间的相互作用力，实现原子级表面形貌的观测。在扫描过程中，微悬臂的针尖与样品表面轻微接触，通过控制作用力恒定，记录下针尖位置变化，进而生成样品表面的三维图像。KPFM则主要用于半导体材料的微观形貌表征及表面...