检测中心 原子力显微镜AFM 一、KPFM 开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米...
3、开尔文探针力显微镜表征(KPFM) 开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscopy KPFM)通常测试的是导电探针和样品表面的接触电势差(CPD),它可以在不损伤样品的情况下同时得到待测样品的微观表面形貌和表面电学性质的信息,例如图4中KPFM可以清晰、准确地分辨合金样品中不同材料的电势差分布。 图4.合金样品的主形貌...
非共振和边带KPFM测量结果表明,边带KPFM的空间分辨率和电势分辨率都有所提高。对于边带KPFM,我们观察到基板和F14H20之间的潜在对比度为700-750mv,以及确定的横向分辨率,甚至可以成像聚集体中的小间隙。另一方面,非共振KPFM显示大约300mv的电势差,表明局部电位灵敏度较低。此外,边带KPFM捕获的清晰边缘在非共振KPFM中模糊,...
原子力显微镜 (Atomic Force Microscopy, AFM) 和开环扫描电位显微镜 (Kelvin Probe Force Microscopy, KPFM) 是目前常用的两种测量表面电位差的方法。AFM通过探针与样品之间的相互作用力来测量材料表面的形貌,而KPFM则结合了AFM和电势测量技术,可以同时获得表面形貌和电势信息。 1.2 文章结构 本文将首先介绍AFM和KPFM的...
AFM 是在STM 基础上发展起来的,是通过测量样品表面分子(原子)与AFM 微悬臂探针之间的相互作用力,来观测样品表面的形貌。 其工作原理:将一个对极微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触。由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种作用力恒定,带...
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1. 打开软件并导入原始数据，使用flatten、execute、roughness等功能获取均方根粗糙度（Ra）及三维图像。2. 调整色条范围以进行数据对比，导出3D图像。3. 对KPFM数据进行类似操作，通过选中potential、flatten、execute、section等功能，并在图中绘制线段导出数据，最后在originn软件中绘图。AFM与KPFM数据处理...
现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究 Park原子力 Nanoscope软件-AFM数据分析 二次元的米格实验室 07:57 AFM原子力显微镜数据处理 就是这样喵喵喵喵喵喵 30560 07:12 AFM高度图像高级拉平处理操作 BrukerAFM 09:45 TdPi 28:22 AFM基础介绍 灼识新知 ...
经典案例覆盖薄膜表面形貌和粗糙度表征、纳米层状材料厚度表征、KPFM测试、CAFM测试、PFM测试、SCM测试以及PeakForce QNM测试。每个测试案例都详细展示了AFM在不同领域的应用，包括薄膜样品、二维材料、导电探针和样品表面的接触电势差测试、电流分布测试、压电材料和铁电材料的压电响应情况、半导体器件和材料中...
2. 出众的扫描能力，适应各种样品和实验条件。3. 优异的可操作性，方便用户使用。4. 非凡的灵活性与功能性，满足多样化实验需求。测试项目：AFM 2D/3D形貌、粗糙度、相图、厚度等。特殊模式包括力曲线（Force curve）、QNM杨氏模量图、KPFM表面电势图、PFM压电力显微镜、C-AFM导电力显微镜等。