原位样品表征：在扫描电子显微镜（SEM）内部，通过CPEM技术，确保了样品分析在同时、同地、同条件下进行，进一步拓展了原子力显微镜（AFM）在飞纳电镜内部实现原子级分辨率的能力。精确定位感兴趣区域：借助SEM的导航功能，AFM尖端能够迅速且准确地抵达预设的感兴趣区域，为科研人员提供了极大的便利。跨领域应用：无论是材料科学、
今天，我们激动地推出一款革命性的新产品——Phenom AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机，这是一款将 SEM 与 AFM 结合的全新设备，它将开启台式电镜原位关联的新时代，为样品分析带来前所未有的可能性。Phenom AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机能够提供多种测量模式，包括机械性能、相关性分析、磁性能、电机械性能和电性能等...
Phenom AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机,同时获取扫描电镜 SEM 和 原子力显微镜 AFM 数据,并且实现自动关联。可以实现对薄片的精确位置定位和表面分析,在单次采集中检测多个薄片特征,能够对二维材料的机械、电学、压电、磁学、化学等多种性质进行表征和对比。 ”低维材料基础研究:适用于石墨烯、六方氮化硼(BNNSs)、过...
AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品:硅片上的非晶硅薄膜 高精角度测量 普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。 AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不...
扫描区域 分辨率和图像失真 并能够实时关联采集的SPM和SEM图像 NenoVision引入了CPEM技术 CPEM技术是市场上同类产品中的第一个,它允许在同一位置和同一时间使用同一协调系统测量SPM和SEM。 扫描电镜技术 通过电子扫描样品进行二维分析。 SPM技术 通过物理探针扫描样品。
扫描电镜原位AFM系统提供了在SEM电镜中原子力显微镜成像和定量测量纳米力的能力。它使得SEM和AFM这两种技术最佳结合,提供了高速高分辨率的3D形貌成像,以及微纳米和亚纳米尺度纳牛力相互作用的实时观测。 产品特性: •同步AFM和SEM成像 •兼容市面上的主流SEM电镜 ...
原了力显微镜 AFM是Atomic Force Microscope的缩写,即原子力显微镜。选项中“原了力显微镜”存在错别字,但根据题意应为“原子力显微镜”。其他选项中,透射电镜(TEM)和扫描电镜(SEM)属于电子显微镜;扫描隧道显微镜(STM)是另一种扫描探针显微镜,与AFM不同。故正确选项为第四个,虽笔误但可辨识。题目完整,答案存在。反...
FPANF-LevelAFM型扫描电镜支持加工定制,放大倍数高达10000-100000X,适用于科研、教学、工业检测等多个领域。其特点包括高分辨率、高稳定性以及易操作,广泛应用于材料科学、生物医学等领域。本产品由孚光精仪生产,重量为75,提供详细的使用注意事项和维护保养指南,确保用户能规范操作并保持设备良好状态。如需了解更多或定...
北京骏程科技有限公司为您提供扫描电镜专用原位AFM探测系统。北京骏程科技有限公司主要代理ix-cameras高速摄相机、高速摄像机、高速摄影机、运动分析软件,高速相机;产品广泛应用在爆炸分析、弹道分析、材料冲击测试、高速微流体、高速焊接视频、高速产线检查等领域。
和扫描电子显微镜(SEM)相比,AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢,受探头的影响太大。 仪器结构 在原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)的系统中,可分成三个部分:力检测部分、位置检测部分、反馈系统。 力检测部分 在原子力显微镜(AFM)的系统中,所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用...