原子力显微镜 (AFM) 是一种高分辨率形式的扫描探针显微镜,也称为扫描力显微镜 (SFM)。该仪器使用末端带有尖锐尖端的悬臂扫描样品表面. 当探针扫描样品表面时,针尖和样品之间的吸引力或排斥力通常以范德华力的形式存在,但也可以是其他一些形式,例如静电和疏水性/亲水性,导致悬臂偏转, 偏转由激光测量从悬臂反射到光电二极管中。随着其中一个光电二
"I've been subscribing to AFM for over two years and love it. The ability to compare funds, do in-depth research and gain data-driven insights into performance metrics and performance rankings in a highly visual way is second to none. Highly recommended." ...
布鲁克无与伦比的 AFM 模式为各种应用提供了研究优势 原子力显微镜模式 在核心成像模式(接触模式和轻敲模式)的基础上,布鲁克提供多样化的原子力显微镜模式,允许用户对样品的电学、磁学或材料性能进行探测。随着研究的进展,用户要求在可用的模式和技术上更具通用性。
AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器，具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下（空气或者具有溶液的环境下）对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测，包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。目前，AFM（原子力显微镜）已广泛应用于...
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。 AFM原理:针尖与表面原子相互作用1985年,IBM公司的Binning和Stanford大学...
轻敲模式是所有AFM模式中最常见的一种,通过使用处于振动状态的探针针尖对样品表面进行敲击来生成形貌图像。扫描过程中,探针悬臂的振幅随样品表面形貌的起伏而变化。 优点:不会对样品造成损伤,不会刮擦样品表面,可以对较软样品成像,并且可以不受...
Students who complete EPSM in advance of sitting Strategic Professional exams have a 25% better success rate. Find out more AFM professional skills changes From September 2022, we'll be introducing professional skills marks into the ACCA Strategic Professional Options exams. Learn more...
5/31/2025 by Oliver Mitchell Love Horror Charli Xcx's Coming-Of-Age Series Is Crushing It On Prime Video 5/30/2025 by Kieran Fisher Slash Film Nanni Moretti Young Italian Filmmakers Come to the Fore at Cannes’ Un Certain Regard
(e.g., trenches, lines, and gratings) that measure down to a couple of hundred nanometers. This scale excludes the use of optical microscopes due to the light diffraction limit. However, atomic force microscopy (AFM) can provide nanometer accuracy in x, y, and z dire...
2. AFM拍摄不到自己想要的效果,表面形貌或粗糙度与自己预期不符合? AFM拍摄也需要不断寻找合适的位置拍摄,同一样品不同拍摄部位表面形貌和粗糙度极有可能不一致,因为原子力显微镜成像范围较小,与拍摄样品表面是否均匀息息相关。 3. 什么是相图?如何分析相图?