01 AFM功能 (1)表面形貌和粗糙度 通过探针与样品间的作用力来表征材料表面的形貌,这是AFM 最基础的功能。分析形貌图可以得到材料表面的粗糙度、颗粒度、平均梯度、孔结构、孔径分布以及纳米颗粒尺寸等信息。 图1 钙钛矿的2D和3D图像 (2)高度和厚度 SEM测量沟槽或台阶的深度、高度或宽度时,需要将材料切出来一个截...
AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器，具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下（空气或者具有溶液的环境下）对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测，包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。目前，AFM（原子力显微镜）已广泛应用于...
所以,人们发明了原子力显微镜(AFM)弥补这方面的不足。 1986 年, IBM公司的G.Binning和斯坦福大学的C.F.Quate及C.Gerber 合作发明的原子力显微镜(Atomic ForceMicroscope, AFM)[1]更是突出地显现了显微观测技术作为人类视觉感官功能的延伸与增强的重要性,它是在扫描隧道显微镜基础上为观察非导电物质经改进而发展起来...
轻敲模式是所有AFM模式中最常见的一种,通过使用处于振动状态的探针针尖对样品表面进行敲击来生成形貌图像。扫描过程中,探针悬臂的振幅随样品表面形貌的起伏而变化。 优点:不会对样品造成损伤,不会刮擦样品表面,可以对较软样品成像,并且可以不受...
原子力显微镜AFM的关键组成部分是一个头上带有一个用来扫描样品表面的尖细探针的微观悬臂。这种悬臂大小在十至百微米，通常由硅或者氮化硅构成，其上有探针，探针之尖端的曲率半径在纳米量级。当在恒定高度扫描时，探头很有可能撞到表面的造成损伤。所以通常会通过反馈系统来维持。基本原理：利用微小探针“摸索”样品...
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原子力显微镜 (AFM) 是一种高分辨率形式的扫描探针显微镜,也称为扫描力显微镜 (SFM)。该仪器使用末端带有尖锐尖端的悬臂扫描样品表面. 当探针扫描样品表面时,针尖和样品之间的吸引力或排斥力通常以范德华力的形式存在,但也可以是其他一些形式,例如静电和疏水性/亲水性,导致悬臂偏转, 偏转由激光测量从悬臂反射到光电...
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原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM),是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件(探针)之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。 AFM可以对样品表面形态、纳米结构、链构象等方面进行研究,获得纳米颗粒尺寸,孔径,材料表面粗糙度...