测试方法就是AEC Q100-011文件，这是AEC Q100文件的第11个附件。附加需求：进行防静电验证前后要进行室温和高温测试。产品应按最大耐压等级分类。如果器件小于750V角落引脚 500V其他引脚CDM条件验证的话需要用户的特别批准。参见1.3.1节。这里提到的AEC Q100 1.3.1小节内容如下：1.3.1 AEC Q100 认证 --根据...
AEC_Q100-011D带电器件模型(cdm)静电放电(esd)试验.docx,AEC - Q100-011 Rev-D January 29, 2019 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 11 AEC - Q100-011 Rev-D CHARGED DEVICE MODEL (CDM) ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) TEST AEC -
Kelly Delphi Delco Electronics Systems AEC - Q100-011 Rev-B July 18, 2003 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Change Notification The following summary details the changes incorporated into AEC-Q100-011 Rev-B: ? Section 3.6, steps j and k: Added wording to allow lower ...
AEC Q100-006 Electrothermally-Induced Gate Leakage 由于不需要将其作为资格试验项目而取消。 1.3 定义 1.3.1 AEC-Q100认证 如果根据本文件中列出的要求,并且成功完成各项测试内容,则允许供应商声称该芯片通过了“AEC Q100认证”。对于ESD,强烈建议在供应商规格书中指定通过电压,并需要在任何异常引脚上做脚注。然后...
AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q001 零件平均测试指导原则 AEC-Q002 统计式良品率分析的指导原则 AEC-Q003 晶片產品的电性表现特性化的指导原则 AEC-Q005 无铅测试要求 AEC-Q100 车用IC产品验证流程 ...
AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q101 离散组件应力测试(Stress Test)的认证规范 AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试 ...
01 什么是AEC-Q100 AEC-Q100是AEC的第一个标准,主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。 AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态,对…
Q100-002: 人体模型静电放电测试 Q100-004: IC 闩锁效应测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和工作寿命测试 Q100-007: 故障模拟和测试分级 Q100-008:早期寿命失败率 Q100-009:配电评估 Q100-010: 焊球剪切试验 Q100-011: 带电器件模型 (CDM) 静电放电测试(新) ...
AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 ...
AEC-Q100-011Rev-C1 CHARGEDDEVICEMODEL(CDM) ELECTROSTATICDISCHARGETEST AEC-Q100-011Rev-C1 March12,2013 ComponentTechnicalCommittee AutomotiveElectronicsCouncil Acknowledgment Anydocumentinvolvingacomplextechnologybringstogetherexperienceandskillsfrommanysources.The ...